[发明专利]光学记录介质、记录/再现设备和记录/再现方法有效
申请号: | 200810109795.4 | 申请日: | 2004-12-27 |
公开(公告)号: | CN101312063A | 公开(公告)日: | 2008-11-26 |
发明(设计)人: | 黄盛熙;高祯完 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | G11B20/18 | 分类号: | G11B20/18;G11B20/12;G11B7/007 |
代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司 | 代理人: | 韩明星;邱玲 |
地址: | 韩国京畿道*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光学 记录 介质 再现 设备 方法 | ||
本申请是向中国知识产权局提交的申请日为2004年12月27日的标题为“光学记录介质、记录/再现设备和记录/再现方法”的第200480039939.3号申请的分案申请。
技术领域
本发明涉及一种用于缺陷管理的光学记录介质、记录/再现设备和记录/再现方法。
背景技术
盘缺陷管理是这样一种处理,其通过将记录在盘的用户数据区中的缺陷,即缺陷块中的用户数据写入用户数据区的新的部分来补偿由缺陷块引起的数据损失。通常,使用线性替换方法或滑动替换方法来执行盘缺陷管理。在这些方法中,用没有缺陷的备用区来替换有缺陷的区。在滑动替换方法中,滑过有缺陷的区,而使用下一个无缺陷的区。在线性替换方法中,用户数据区的出现缺陷的块被称为缺陷块。用于替换缺陷块的替换块被记录在盘的预定部分中的备用区中。关于缺陷块和替换块的信息,即用于搜索缺陷块和替换块的位置的信息被表示于缺陷列表中。
通常,当主机读取记录在盘上的数据时,主机确定数据的逻辑地址,并命令硬盘驱动器读取数据。然后,硬盘驱动器搜索与该逻辑地址对应的物理地址,并读取记录在盘上的与该物理地址对应的位置中的数据。如果缺陷块出现在与该物理地址对应的数据中,则硬盘驱动器必须寻找替换缺陷块的替换块。因此,缺陷列表包括缺陷列表条目,每一条目分别包含关于每一缺陷块的信息。即,为每一缺陷块产生缺陷列表条目,因此需要用于缺陷列表的相当大的记录空间。
发明公开
技术问题
因此,需要对用于缺陷列表的空间进行有效管理。为此,需要对关于缺陷块,特别是用户数据区的连续位置中出现的缺陷块的信息进行有效管理。
技术解决方案
本发明提供一种其上缺陷被管理的光盘、一种有效地管理盘中用于管理缺陷的缺陷列表所需的空间的缺陷管理设备和方法、以及存储用于控制设备执行所述缺陷管理方法的计算机程序的计算机可读光盘。
有益效果
根据本发明,在缺陷管理被执行的光盘上,用于记录缺陷管理的缺陷列表的空间可被有效地管理,从而整个盘空间可被有效地管理。
附图说明
图1是根据本发明实施例的数据记录/再现装置的框图。
图2是根据本发明实施例的单记录层盘的结构图。
图3是根据本发明实施例的双记录层盘的结构图。
图4是根据本发明实施例的SA/DL区的数据结构图。
图5是图4中所示的DL#i的详细的数据构图。
图6是图5中所示的DL条目#i的详细的数据结构图。
图7是示出根据本发明实施例的连续缺陷块的参考图。
图8是示出根据本发明实施例的连续缺陷列表的参考图。
图9是示出图6中所示的替换状态信息和连续缺陷信息的示例的示图。
图10A和图10B是示出根据本发明实施例的具有替换的连续缺陷块和没有替换的连续缺陷块的参考图。
图11A是图10B中所示的DL#k的数据结构图。
图11B是图10B中所示的DL#k的数据结构图,该DL#k还包括关于连续缺陷列表条目的数量的信息。
图11C是图10B中所示的DL#k的数据结构图,该DL#k还包括关于具有替换状态信息“0”的连续缺陷列表条目的数量的信息以及关于具有替换状态信息“1”的连续缺陷列表条目的数量的信息。
图12是根据本发明实施例的用于其上缺陷区被管理的光盘的缺陷管理 方法的流程图。
最佳方式
根据本发明的一方面,其上缺陷被管理的光学记录介质包括替换用户数据区中的缺陷块的替换块以及与缺陷有关的信息记录在其中的SA/DL区。所述与缺陷有关的信息包括连续缺陷列表条目,所述连续缺陷列表条目包括与位于用户数据区的连续位置中的缺陷有关的信息。
所述连续缺陷列表条目可包括:开始条目,对应于与第一缺陷块有关的信息;和结束条目,对应于与最后缺陷块有关的信息,其中,所述第一缺陷块和最后缺陷块属于用户数据区的连续位置中的缺陷块。
所述开始条目可包括与第一缺陷块有关的位置信息以及与替换第一缺陷块的替换块有关的位置信息。
所述结束条目可包括与最后缺陷块有关的位置信息以及与替换最后缺陷块的替换块有关的位置信息。
所述与缺陷有关的信息可包括与连续缺陷列表条目的数量有关的信息。
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