[发明专利]用于信息记录和再现的装置和方法,及光学信息记录介质无效
申请号: | 200810111483.7 | 申请日: | 2008-06-26 |
公开(公告)号: | CN101335020A | 公开(公告)日: | 2008-12-31 |
发明(设计)人: | 田部典宏 | 申请(专利权)人: | 索尼株式会社 |
主分类号: | G11B7/0065 | 分类号: | G11B7/0065;G11B7/135;G11B7/24 |
代理公司: | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 董方源 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 信息 记录 再现 装置 方法 光学 介质 | ||
1.一种信息记录装置,用于在由记录材料组成的多层光学信息记录介 质上记录信息,所述记录材料根据照射光的光强而改变性质,所述多层光 学信息记录介质包括以多个层的形式交替存在的已变质层和未变质层,在 所述已变质层中所述记录材料已经变质,在所述未变质层中所述记录材料 尚未变质;所述信息记录装置包括:
光源,用于发射具有相干性的预定波长的记录光;
光路分支单元,用于将从所述光源发射的记录光的光路分支为第一光 路和第二光路;
两个聚焦位置控制单元,分别安排在所述光路分支单元的后级,用于 控制所述第一光路中的所述记录光和所述第二光路中的所述记录光的聚焦 位置;以及
两个物镜,分别安排在所述聚焦位置控制单元的后级,用于将所述第 一光路中的记录光和所述第二光路中的记录光收集在所述光学信息记录介 质上;其中,
所述第一光路中的记录光从所述光学信息记录介质一侧的表面垂直进 入所述光学信息记录介质;
所述第二光路中的记录光从所述光学信息记录介质另一侧的表面垂直 进入所述光学信息记录介质;并且
全息图被记录作为记录标记,所述全息图对应于由所述第一光路中的 记录光与所述第二光路中的记录光干涉所产生的驻波,
其中,所述两个聚焦位置控制单元将所述第一光路中的所述记录光和 所述第二光路中的所述记录光的聚焦位置控制于所述未变质层或所述已变 质层中相同的位置,所述第一光路中的记录光和所述第二光路中的记录光 的聚焦深度等于所述已变质层或所述未变质层的厚度。
2.根据权利要求1所述的信息记录装置,其中,所述聚焦位置控制单 元将所述第一光路中的记录光和所述第二光路中的记录光的聚焦位置分别 控制于所述未变质层所在的位置。
3.根据权利要求1所述的信息记录装置,其中,所述聚焦位置控制单 元将所述第一光路中的记录光和所述第二光路中的记录光的聚焦位置分别 控制于所述已变质层所在的位置。
4.根据权利要求1所述的信息记录装置,其中,
所述聚焦位置控制单元由一个或多个光学元件构成;并且
通过改变所述一个或多个光学元件的位置,来控制所述第一光路中的 记录光和所述第二光路中的记录光的聚焦位置。
5.根据权利要求4所述的信息记录装置,其中,所述聚焦位置控制单 元由中继透镜或准直器透镜构成。
6.根据权利要求1所述的信息记录装置,其中,
所述光学信息记录介质由两个初始化光束初始化;
所述两个初始化光束中的一者从所述光学信息记录介质一侧的表面上 进入所述光学信息记录介质;并且
所述两个初始化光束中的另一者从所述光学信息记录介质的另一侧的 表面进入所述光学信息记录介质。
7.根据权利要求6所述的信息记录装置,其中,所述两个初始化光束 相对于所述光学信息记录介质的表面的入射角大小相等。
8.根据权利要求7所述的信息记录装置,其中,
所述初始化过程用波长为λ[nm]的初始化光束来执行,使所述已变质 层和所述未变质层各自的厚度均为ΔD[nm];并且
所述两个初始化光束的入射角θ的值由等式1得出
9.根据权利要求1所述的信息记录装置,其中,所述光学信息记录介 质由对于所述记录材料具有光敏感性的波长的初始化光束进行初始化。
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