[发明专利]一种快速响应电子器件响应速度的测试装置及其测试方法

权利要求书

1.一种快速响应电子器件响应速度的测试装置，其特征在于，包括电源控制电路，至少两组被测电子器件的响应模组，计时器，所述电源控制电路与响应模组电源端电连接，各响应模组串联连接，计时器的触发开信号与第一组响应模组的触发信号同步，计时器的触发关信号与最后一组响应模组的输出信号同步。

2.根据权利要求1所述的快速响应电子器件响应速度的测试装置，其特征在于，所述计时器的触发开信号与第一组响应模组的触发信号为同一触发信号，所述计时器的触发关信号与最后一组响应模组的输出信号为同一信号。

3.根据权利要求1或2所述的快速响应电子器件响应速度的测试装置，其特征在于，所述响应模组为光电响应模组或电响应模组或声电响应模组。

4.根据权利要求1或2所述的快速响应电子器件响应速度的测试装置，其特征在于，所述响应模组还包括放大整形及开关触发电路。

5.根据权利要求4所述的快速响应电子器件响应速度的测试装置，其特征在于，所述被测电子器件与放大整形及开关触发电路输入端电连接，放大整形及开关触发电路输出端与下一组被测电子器件触发端或计时器触发关断端电连接。

6.根据权利要求3所述的快速响应电子器件响应速度的测试装置，其特征在于，所述响应模组还包括光电感应元件或声电感应元件。

7.根据权利要求6所述的快速响应电子器件响应速度的测试装置，其特征在于，所述各响应模组之间采用光隔绝或声隔绝。

8.根据权利要求6或7所述的快速响应电子器件响应速度的测试装置，其特征在于，所述光电感应元件或声电感应元件与放大整形及开关触发电路输入端电连接，放大整形及开关触发电路输出端与下一组被测电子器件触发端或计时器触发关断端电连接。

9.一种采用如权利要求1所述的测试装置对快速响应电子器件响应速度的测试方法，其步骤包括：

(1)采用所述测试装置测量N组响应模组的总响应时间T，N≥2；

(2)利用式①或式②、式③计算每一被测电子器件的响应时间T_i；

T＝(T_i+T_K)×N                                    ①

T＝(T_i+T_K+T_G)×N                                        ②

T＝T_i×N                                                ③

式中，T_K为放大整形及开关触发电路响应时间，T_G为光电感应元件或声电感应元件响应时间，其中T_G为已知。

10.根据权利要求9所述的快速响应电子器件响应速度的测试方法，其特征在于，所述步骤(2)还包括测试放大整形及开关触发电路响应时间T_K。

11.根据权利要求10所述的快速响应电子器件响应速度的测试方法，其特征在于，所述测试放大整形及开关触发电路响应时间T_K为将计时器的触发开、触发关分别与放大整形及开关触发电路的输入端、输出端电连接，测试放大整形及开关触发电路响应时间T_K。