[发明专利]一种快速响应电子器件响应速度的测试装置及其测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种测试装置及其测试方法，特别涉及一种测试快速响应电子器件响应速度的装置及其测试方法。

背景技术

近几年随着半导体等电子器件的飞速发展，各种电子器件的性能和反应速度得到了大幅提高，相应的，随之的器件性能测试设备也在日新月异的发展。目前，各种快速响应电子器件，如高性能光电耦合器件的响应速度已经达到毫微妙级，而测试设备的测试精度远远达不到需求，所作的测试工作仅仅是粗略测试得到的结果，或采用昂贵的设备进行测试花费大量的资金，成本太高。

另外，近几年新出现的有机电致发光显示器(OLED)，具有自主发光、低电压直流驱动、全固化、视角宽、颜色丰富等一系列的优点，与液晶显示器相比，OLED不需要背光源，视角大，功率低，尤其其响应速度可达液晶显示器的1000倍，制造成本却低于同等分辨率的液晶显示器，因此，有机电致发光显示器具有广阔的应用前景。

而目前测试OLED屏的响应速度基本上是使用光电感应元件，置光电感应元件于OLED屏的发光面，光电感应元件后接放大器及整形电路，后接示波器。通过观察示波器上的波形的上升沿的时差，即可估算出OLED屏的响应时间。

老式的测试存在如下的缺陷；

1、因OLED屏的响应时间很短，要观察到波形需要高速示波器，仪器费用高；

2、如此快速的波形在示波器上一闪即逝，无法仔细观察研究，影响测量精度；

3、光电感应元件响应速度、放大及整形电路的时间延迟无法判明，这些因素将淹没或极大的影响OLED屏响应速度。

发明内容

本发明的目的在于提供一种能够准确测量快速响应电子器件的响应速度，成本较低的响应速度测试装置。

本发明的另一目的在于提供一种采用上述测试装置测试电子器件响应速度的方法。

本发明的目的是通过以下技术方案予以实现的：本发明之响应速度测试装置包括电源控制电路，至少两组被测电子器件的响应模组，计时器；所述电源控制电路与响应模组电源端电连接，各响应模组串联连接，计时器的触发开信号与第一组响应模组的触发信号同步，计时器的触发关信号与最后一组响应模组的输出信号同步。

所述计时器的触发开信号与第一组响应模组的触发信号可为同一触发信号。

所述计时器的触发关信号与最后一组响应模组的输出信号可为同一信号。

所述响应模组可为光电响应模组或电响应模组或声电响应模组。

所述响应模组还可包括放大整形及开关触发电路。

所述被测电子器件与放大整形及开关触发电路输入端电连接，放大整形及开关触发电路输出端与下一组被测电子器件触发端或计时器触发关断端电连接。

所述响应模组还包括光电感应元件或声电感应元件。

所述各响应模组之间可以采用光隔绝或声隔绝。

所述光电感应元件或声电感应元件与放大整形及开关触发电路输入端电连接，放大整形及开关触发电器输出端与下一组被测电子器件触发端或计时器触发关断端电连接。

本发明的另一目的是通过以下技术方案予以实现的：本发明之快速响应电子器件响应速度的测试方法包括如下步骤；

(1)采用所述测试装置测量N(N≥2)组响应模组的总响应时间T；

(2)利用式①或式②、式③计算每一被测电子器件的响应时间T_i；

T＝(T_i+T_K)N    ①

T＝(T_i+T_K+T_G)×N    ②

T＝T_i×N    ③

式中，T_K为放大整形及开关触发电路响应时间，T_G为光电感应元件或声电感应元件响应时间，其中T_G为已知。

所述步骤(2)还包括测试放大整形及开关触发电路响应时间T_K。

所述测试放大整形及开关触发电路响应时间T_K为将计时器的触发开、触发关分别与放大整形及开关触发电路的输入端、输出端电连接，测试放大整形及开关触发电路响应时间T_K。

本发明针对快速响应电子器件的响应速度测试成本高及测量精度不高的现有缺陷，采用多组被测器件串联测量总响应时间，通过计算得出每组器件的响应时间，无需使用费用昂贵的显示仪器，同时能够得到同一型号电子器件响应速度的高精度的测试结果。

附图说明

图1为本发明电子器件响应速度测试装置结构示意图；