[发明专利]液晶显示面板云纹缺陷的检测方法和检测装置有效
申请号: | 200810117992.0 | 申请日: | 2008-08-19 |
公开(公告)号: | CN101655614A | 公开(公告)日: | 2010-02-24 |
发明(设计)人: | 唐剑;王大巍;李新国;梁珂;董友梅 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13;G06T7/00 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 | 代理人: | 刘 芳 |
地址: | 100016*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 液晶显示 面板 缺陷 检测 方法 装置 | ||
1.一种液晶显示面板云纹缺陷的检测方法,其特征在于,包括:
步骤1、采集所要检测的液晶显示面板的样本图像;
步骤2、根据所述样本图像,利用B样条最小二乘法拟合出所述样本图像所对应的背景图像;所述步骤2具体为:
获取所述样本图像中包含的像素点数量和节点向量;
根据所述像素点数量确定控制点数量和样条基次数;
根据所述控制点数量、样条基次数和节点向量,利用B样条最小二乘法拟合出所述样本图像所对应的背景图像;
步骤3、将所述样本图像和背景图像进行比较,获取云纹缺陷图像。
2.根据权利要求1所述的液晶显示面板云纹缺陷的检测方法,其特征在于,所述步骤3具体为:
将所述样本图像和背景图像相减得到中间图像信息;
对所述中间图像信息进行滤波处理;
对滤波处理后的中间图像信息进行阈值二值化处理以分割出云纹缺陷区域的图像;
对所述云纹缺陷区域的图像进行形态学处理以滤除孤立的噪声点和假目标;
获取云纹缺陷图像。
3.根据权利要求1所述的液晶显示面板云纹缺陷的检测方法,其特征在于,所述步骤3具体为:
对所述样本图像进行滤波处理;
将滤波处理后的样本图像和背景图像相减得到中间图像信息;
对所述中间图像信息进行阈值二值化处理以分割出云纹缺陷区域的图像;
对所述云纹缺陷区域的图像进行形态学处理以滤除孤立的噪声点和假目标;
获取云纹缺陷图像。
4.一种液晶显示面板云纹缺陷的检测装置,其特征在于,包括:
样本图像采集模块,用于采集所要检测的液晶显示面板的样本图像;
背景图像拟合模块,与所述样本图像采集模块连接,用于根据所述样本图像,利用B样条最小二乘法拟合出所述样本图像对应的背景图像;所述背景图像拟合模块包括:
像素点数量获取单元,获取所述样本图像中包含的像素点数量和节点向量;
控制点数量确定单元,与所述像素点数量获取单元连接,用于根据像素点数量确定控制点数量和样条基次数;
图像拟合单元,分别与所述像素点数量获取单元、控制点数量确定单元连接,用于根据所述控制点数量、样条基次数和节点向量,利用最小二乘法拟合出所述样本图像所对应的背景图像;
缺陷图像获取模块,分别与所述样本图像采集模块、背景图像拟合模块连接,用于将所述样本图像和背景图像进行比较,获取云纹缺陷图像。
5.根据权利要求4所述的液晶显示面板云纹缺陷的检测装置,其特征在于,所述缺陷图像获取模块包括:
图像滤波单元,用于对所述样本图像和背景图像相减得到的中间图像信息进行滤波处理;
图像分割单元,与所述图像滤波单元连接,用于对滤波处理后的中间图像信息进行阈值二值化处理以分割出云纹缺陷区域的图像;
形态学处理单元,与所述图像分割单元连接,用于对所述缺陷区域的图像进行形态学处理以滤除孤立的噪声点和假目标;
缺陷图像获取单元,与所述形态学处理单元连接,用于获取云纹缺陷图像。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于京东方科技集团股份有限公司,未经京东方科技集团股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200810117992.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种厚光阻的多重曝光方法
- 下一篇:平衡式摆杆及启动装置