[发明专利]液晶显示面板云纹缺陷的检测方法和检测装置

说明书

技术领域

本发明涉及液晶显示器技术领域，特别涉及一种液晶显示面板云纹缺陷的检测方法和检测装置。

背景技术

目前，各大薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor LiquidCrystal Display，以下简称TFT-LCD)生产厂商为提高自身产品的竞争力，都在努力提高产品品质和降低成本，而降低成本的最有效、最直接的途径是提高产品优良率，这就需要研究人员准确快速地判断和分析出各种缺陷产生的原因和缺陷的类型，并以此不断改良工艺技术。在薄膜晶体管液晶显示面板的各种缺陷中，云纹(Mura)缺陷是占比例较大的一个类型，多表现为低对比度，面积大于一个像素，边界模糊，形状大小不一等状况。云纹缺陷的量化比较困难，检测的难度较高，在现有技术中通常是由经专业培训的检测人员靠人眼检测。由于人类视觉限制、训练程度及主观因素的影响，容易产生错误，并且液晶面板尺寸不断增大，也给检测人员的检测带来诸多不便。为此液晶面板制造厂商都渴望能够开发出自动高效的液晶显示面板检测装置以代替人眼检测，来更客观的评价各种缺陷。

近年来，随着机器视觉技术的发展，研究人员开始将其应用于各种液晶面板缺陷的检测中，但是由于液晶的视角特性，导致在不同角度观察整个屏幕会产生很大的不均匀性，而云纹缺陷的对比度很低，其自身的灰度变化范围容易被完全淹没在背景的灰度起伏中，因此常见的图像分割技术无法应用于云纹缺陷检测中。

因此在现有技术中还没有理想的云纹缺陷检测方法，普遍采用的人眼检测，检测效率和检测的准确率都较低。

发明内容

本发明的目的是解决现有技术中云纹缺陷检测效率和检测的准确率低的缺点，提供一种液晶显示面板云纹缺陷的检测方法和检测装置。

为实现上述目的，本发明提供了一种液晶显示面板云纹缺陷的检测方法，包括：

步骤1、采集所要检测的液晶显示面板的样本图像；

步骤2、根据所述样本图像，利用B样条最小二乘法拟合出所述样本图像所对应的背景图像；

步骤3、将所述样本图像和背景图像进行比较，获取云纹缺陷图像。

上述步骤2具体为：

获取所述样本图像中包含的像素点数量和节点向量；

根据所述像素点数量确定控制点数量和样条基次数；

根据控制点数量、样条基次数和节点向量，利用B样条最小二乘法拟合出所述样本图像所对应的背景图像。

上述步骤3具体为：

将所述样本图像和背景图像相减得到中间图像信息；

对所述中间图像信息进行滤波处理；

对滤波处理后的中间图像信息进行阈值二值化处理以分割出云纹缺陷区域的图像；

对云纹缺陷区域的图像进行形态学处理以滤除孤立的噪声点和假目标；

获取云纹缺陷图像。

上述步骤3还可以具体为：

对所述样本图像进行滤波处理；

将滤波处理后的样本图像和背景图像相减得到中间图像信息；

对中间图像信息进行阈值二值化处理以分割出云纹缺陷区域的图像；

对所述云纹缺陷区域的图像进行形态学处理以滤除孤立的噪声点和假目标；

获取云纹缺陷图像。

本发明还提供了一种液晶显示面板云纹缺陷的检测装置，包括：

样本图像采集模块，用于采集所要检测的液晶显示面板的样本图像；

背景图像拟合模块，与所述样本图像采集模块连接，用于根据所述样本图像，利用B样条最小二乘法拟合出所述样本图像对应的背景图像；

缺陷图像获取模块，分别与所述样本图像采集模块、背景图像拟合模块连接，用于将所述样本图像和背景图像进行比较，获取云纹缺陷图像。

上述背景图像拟合模块包括：

像素点数量获取单元，获取所述样本图像中包含的像素点数量和节点向量；

控制点数量确定单元，与所述像素点数量获取单元连接，用于根据像素点数量确定控制点数量和样条基次数；

图像拟合单元，分别与所述像素点数量获取单元、控制点数量确定单元连接，用于根据所述控制点数量、样条基次数和节点向量，利用最小二乘法拟合出所述样本图像所对应的背景图像。

上述缺陷图像获取模块包括：

图像滤波单元，用于对所述样本图像和背景图像相减得到的中间图像信息进行滤波处理；

图像分割单元，与所述图像滤波单元连接，用于对滤波处理后的中间图像信息进行阈值二值化处理以分割出云纹缺陷区域的图像；

形态学处理单元，与所述图像分割单元连接，用于对所述缺陷区域的图像进行形态学处理以滤除孤立的噪声点和假目标；