[发明专利]一种透明导电膜的制备方法无效
申请号: | 200810119982.0 | 申请日: | 2008-10-21 |
公开(公告)号: | CN101430944A | 公开(公告)日: | 2009-05-13 |
发明(设计)人: | 张云龙;徐健;程云立;承高建 | 申请(专利权)人: | 北京东方新材科技有限公司 |
主分类号: | H01B5/14 | 分类号: | H01B5/14;H01B13/00;G06F3/041;G02F1/133;C23C14/06;C23C14/22 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 透明 导电 制备 方法 | ||
1、一种透明导电膜的制备方法,包括以下步骤:
(a)在透明基板上用有机材料形成图案,其中欲形成透明导电膜处无有机材料,不欲形成透明导电膜处有有机材料;
(b)开启气相沉积源,在该基板上以物理气相沉积方式沉积一层透明导电膜;
(c)开启气相沉积源,在(b)沉积的透明导电膜上以物理气相沉积方式沉积一层透明保护膜;
(d)对该基板进行脱膜处理,即将基板上的有机材料以及其上的透明导电膜和透明保护膜去除。
2、根据权利要求1所述的透明导电膜的制备方法,其特征在于:所述步骤(a)中的有机材料包括油墨和光刻胶。
3、根据权利要求1所述的透明导电膜的制备方法,其特征在于:所述步骤(a)中的有机材料图案可由丝网印刷法或者光刻法制备而成。
4、根据权利要求1所述的透明导电膜的制备方法,其特征在于:所述步骤(a)中的透明基板包括玻璃基板或者柔性基板。
5、根据权利要求1所述的透明导电膜的制备方法,其特征在于:所述步骤(b)中的物理气相沉积方式包括溅射方式和蒸发方式。
6、根据权利要求1所述的透明导电膜的制备方法,其特征在于:所述步骤(b)中的透明导电膜包括In2O3:Sn(ITO)、ZnO:Al(AZO)和SnO2:Sb(ATO)。
7、根据权利要求1所述的透明导电膜的制备方法,其特征在于:所述步骤(c)中的物理气相沉积方式包括溅射方式和蒸发方式。
8、根据权利要求1所述的透明导电膜的制备方法,其特征在于:所述步骤(c)中的物理气相源与基板之间设有金属掩模。
9、根据权利要求1所述的透明导电膜的制备方法,其特征在于:所述步骤(c)中的透明保护膜包括SiO2和Al2O3。
10、根据权利要求1所述的透明导电膜的制备方法,其特征在于:所述步骤(d)中的脱膜处理所用的脱膜液包括丙酮、氢氧化钠溶液和氢氧化钾溶液。
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