[发明专利]一种透明导电膜的制备方法无效

专利信息
申请号: 200810119982.0 申请日: 2008-10-21
公开(公告)号: CN101430944A 公开(公告)日: 2009-05-13
发明(设计)人: 张云龙;徐健;程云立;承高建 申请(专利权)人: 北京东方新材科技有限公司
主分类号: H01B5/14 分类号: H01B5/14;H01B13/00;G06F3/041;G02F1/133;C23C14/06;C23C14/22
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摘要:
搜索关键词: 一种 透明 导电 制备 方法
【权利要求书】:

1、一种透明导电膜的制备方法,包括以下步骤:

(a)在透明基板上用有机材料形成图案,其中欲形成透明导电膜处无有机材料,不欲形成透明导电膜处有有机材料;

(b)开启气相沉积源,在该基板上以物理气相沉积方式沉积一层透明导电膜;

(c)开启气相沉积源,在(b)沉积的透明导电膜上以物理气相沉积方式沉积一层透明保护膜;

(d)对该基板进行脱膜处理,即将基板上的有机材料以及其上的透明导电膜和透明保护膜去除。

2、根据权利要求1所述的透明导电膜的制备方法,其特征在于:所述步骤(a)中的有机材料包括油墨和光刻胶。

3、根据权利要求1所述的透明导电膜的制备方法,其特征在于:所述步骤(a)中的有机材料图案可由丝网印刷法或者光刻法制备而成。

4、根据权利要求1所述的透明导电膜的制备方法,其特征在于:所述步骤(a)中的透明基板包括玻璃基板或者柔性基板。

5、根据权利要求1所述的透明导电膜的制备方法,其特征在于:所述步骤(b)中的物理气相沉积方式包括溅射方式和蒸发方式。

6、根据权利要求1所述的透明导电膜的制备方法,其特征在于:所述步骤(b)中的透明导电膜包括In2O3:Sn(ITO)、ZnO:Al(AZO)和SnO2:Sb(ATO)。

7、根据权利要求1所述的透明导电膜的制备方法,其特征在于:所述步骤(c)中的物理气相沉积方式包括溅射方式和蒸发方式。

8、根据权利要求1所述的透明导电膜的制备方法,其特征在于:所述步骤(c)中的物理气相源与基板之间设有金属掩模。

9、根据权利要求1所述的透明导电膜的制备方法,其特征在于:所述步骤(c)中的透明保护膜包括SiO2和Al2O3

10、根据权利要求1所述的透明导电膜的制备方法,其特征在于:所述步骤(d)中的脱膜处理所用的脱膜液包括丙酮、氢氧化钠溶液和氢氧化钾溶液。

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