[发明专利]电容式厚绝缘产品干燥处理过程的介质损耗性能监控方法有效
申请号: | 200810124271.2 | 申请日: | 2008-06-23 |
公开(公告)号: | CN101315399A | 公开(公告)日: | 2008-12-03 |
发明(设计)人: | 何平;闵建 | 申请(专利权)人: | 南京电气(集团)有限责任公司 |
主分类号: | G01R27/26 | 分类号: | G01R27/26 |
代理公司: | 南京纵横知识产权代理有限公司 | 代理人: | 董建林 |
地址: | 210038*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电容 绝缘 产品 干燥 处理 过程 介质 损耗 性能 监控 方法 | ||
1.一种电容式厚绝缘产品干燥处理过程的介质损耗性能监控方法,其特征在于:包括以下步骤
1)在工艺处理过程中利用在线监测系统对半成品的介质损耗参数tanδ′进行即时监测;
2)根据相应的温度介质损耗换算公式,计算出生产完成后的产品介质损耗值tanδ,
所述在线监测系统包括高压电容电桥CB、电压源V、标准电容Cs、耐高温测量线及被测产品Cx,被测产品Cx与标准电容Cs、电压源V并联相接,被测产品Cx和标准电容Cs的一端同时加测量电压,被测产品Cx的另一端接高压电容电桥CB的测量电缆接口Cx1,标准电容Cs的另一端直接与高压电容电桥CB的测量电缆接口Cs相接,测量电缆的外屏蔽层与高压电容电桥CB的接地端子GND同时接地;
所述产品温度介质损耗换算公式为:
tanδ2=K1×K2×tanδ1
其中:tanδ2-浸油后,产品温度20℃时的tanδ值;
tanδ1-浸油前,产品温度t℃时的tanδ值;
K1-在某一温度下,浸油前、后,产品介质损耗换算系数;
K2-浸油后,相对于20℃时,产品介质损耗的换算系数。
2.根据权利要求1所述的电容式厚绝缘产品干燥处理过程的介质损耗性能监控方法,其特征在于:所述高压电容电桥选用1级以上精度的高压电容电桥,电压在<100kV以下的高压进行测量。
3.根据权利要求1所述的电容式厚绝缘产品干燥处理过程的介质损耗性能监控方法,其特征在于:所述耐高温测量线在100℃高温时不会发生老化变形。
4.根据权利要求3所述的电容式厚绝缘产品干燥处理过程的介质损耗性能监控方法,其特征在于:所述耐高温测量线的线芯对地的耐压值高于测量时所施加的电压。
5.根据权利要求1所述的电容式厚绝缘产品干燥处理过程的介质损耗性能监控方法,其特征在于:当出现明显的外电磁场干扰而导致电桥无法平衡时,采取倒相法或电桥移位法措施排除干扰。
6.根据权利要求1所述的电容式厚绝缘产品干燥处理过程的介质损耗性能监控方法,其特征在于:在相同温度下浸油前、后产品本体介质损耗的换算系数K1在90℃时为1.1。
7.根据权利要求1所述的电容式厚绝缘产品干燥处理过程的介质损耗性能监控方法,其特征在于:浸油后产品的本体介质损耗换算系数K2在60℃、80℃和90℃时分别为1.36、1.51和1.69。
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