[发明专利]具有模拟基板的芯片重新配置结构及其封装方法有效
申请号: | 200810125050.7 | 申请日: | 2008-06-25 |
公开(公告)号: | CN101615584A | 公开(公告)日: | 2009-12-30 |
发明(设计)人: | 黄成棠 | 申请(专利权)人: | 南茂科技股份有限公司;百慕达南茂科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/50 | 分类号: | H01L21/50;H01L21/60;H01L23/48;H01L23/31;H01L25/00 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人: | 任永武 |
地址: | 台湾省新竹科学*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 具有 模拟 芯片 重新 配置 结构 及其 封装 方法 | ||
技术领域
本发明有关一种半导体的封装结构及方法,特别是有关一种将芯片或多个芯片重新配置至具有封装体的载板后,再经使用重新配置层(RDL)来形成模块化的封装结构及其封装方法。
背景技术
半导体的技术已经发展的相当的迅速,因此微型化的半导体芯片(Dice)必须具有多样化的功能的需求,使得半导体芯片必须要在很小的区域中配置更多的输入/输出垫(I/O pads),因而使得金属接脚(pins)的密度也快速的提高了。因此,早期的导线架封装技术已经不适合高密度的金属接脚;故发展出一种球阵列(Ball Grid Array:BGA)的封装技术,球阵列封装除了有比导线架封装更高密度的优点外,其锡球也比较不容易损害与变形。
随着3C产品的流行,例如:移动电话(Cell Phone)、个人数字助理(PDA)或是iPod等,都必须要将许多复杂的系统芯片放入一个非常小的空间中,因此为解决此一问题,一种称为“晶片级封装(wafer level package;WLP)”的封装技术已经发展出来,其可以在切割晶片成为一个个的芯片之前,就先对晶片进行封装。美国第5,323,051号专利即揭露了这种“晶片级封装”技术。然而,这种“晶片级封装”技术随着芯片主动面上的焊垫(pads)数目的增加,使得焊垫(pads)的间距过小,除了会导致信号耦合或信号干扰的问题外,也会因为焊垫间距过小而造成封装的可靠度降低等问题。因此,当芯片再更进一步的缩小后,使得前述的封装技术都无法满足。
为解决此一问题,美国第7,196,408号专利已揭露了一种将完成半导体制作工序的晶片,经过测试及切割后,将测试结果为良好的芯片(good die)重新放置于另一个基板之上,然后再进行封装工序,如此,使得这些被重新放置的芯片间具有较宽的间距,故可以将芯片上的焊垫适当的分配,例如使用横向延伸(或扇出)(fan out)技术,因此可以有效解决因间距过小,除了会导致信号耦合或信号干扰的问题。
然而,为使半导体芯片能够有较小及较薄的封装结构,在进行晶片切割前,会先对晶片进行薄化处理,例如以背磨(backside lapping)方式将晶片薄化至2~20密耳(mil),然后再切割成一个个的芯片。此一经过薄化处理的芯片,经过重新配置在另一基板上,再以注模方式将多个芯片形成一封装体;由于芯片很薄,使得封装体也是非常的薄,故当封装体脱离基板之后,封装体本身的应力会使得封装体产生翘曲,增加后续进行切割工序的困难。
另外,在晶片切割之后,要将芯片重新配置在另一个尺寸较原来基板的尺寸还大基板时,由于需要通过取放装置(pick&place)将芯片吸起,然后将芯片翻转后,以覆晶方式将芯片的主动面贴附于基板上,而在取放装置将芯片翻转的过程中,容易会产生倾斜(tilt)而造成位移,例如:倾斜超过5微米,故会使得芯片无法对准,进而使得后续植球工序中也无法对准,而造成封装结构的可靠度降低。
发明内容
鉴于以上的问题,本发明的主要目的在于提供一种利用封装体形成在载板上,通过封装体使得芯片可以重新配置在另一载板,借此可以让每一个芯片准确的配置在载板上。
本发明的另一主要目的在提供一种芯片重新配置的封装方法,其可以将12时晶片所切割出来的芯片重新配置于8时晶片的基板上,如此可以有效运用8时晶片的即有的封装设备,而无需重新设立12时晶片的封装设备,可以降低12时晶片的封装成本。
本发明的还有一主要目的在提供一种芯片重新配置的封装方法,使得进行封装的芯片都是“已知是功能正常的芯片”(Known good die),可以节省封装材料,故也可以降低工艺成本。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南茂科技股份有限公司;百慕达南茂科技股份有限公司,未经南茂科技股份有限公司;百慕达南茂科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200810125050.7/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造