[发明专利]磁盘驱动器装置及介质检测方法

权利要求书

1.一种用于检查存储设备的硬盘表面的介质缺陷的方法，其特征在于包括：

在第一硬盘表面区域中实施用于缺陷检测的第一标准；以及

在第二硬盘表面区域中实施第二标准，所述第二标准具有比所述第一标准小的缺陷检测阈值。

2.根据权利要求1的方法，其特征在于所述第二硬盘表面区域包括邻近所述硬盘表面上的同步标记的区域。

3.根据权利要求1的方法，其特征在于实施所述第二标准包括检查这样的缺陷尺寸，所述缺陷尺寸对于数据区域而言是可以接受的而对于同步标记区域而言却大到无法接受。

4.根据权利要求1的方法，还包括在与伺服门脉冲直接相关的时间处断言读/写门。

5.根据权利要求4的方法，其特征在于在与所述伺服门脉冲直接相关的时间处断言所述读/写门包括在所述伺服门脉冲的下降沿处断言读/写门脉冲。

6.根据权利要求4的方法，其特征在于在与所述伺服门脉冲直接相关的时间处断言所述读/写门包括在所述伺服门脉冲的所述下降沿之后的选择的时间处断言所述读/写门。

7.一种用于检查存储设备的硬盘表面的介质缺陷的方法，其特征在于包括以下步骤：

使用伺服门脉冲的下降沿触发写门的断言；

在扇区中写测试数据组；

使用伺服门脉冲的下降沿触发读门的断言，以读所述扇区中的所述测试数据组；以及

比较所述写的测试数据组与所述读的测试数据组，以确定介质缺陷位置。

8.根据权利要求7的方法，其特征在于使用所述伺服门脉冲的下降沿触发所述写门的断言包括在紧密邻近所述伺服门脉冲的所述下降沿的时间间隔之后触发写门的断言。

9.根据权利要求7的方法，其特征在于比较所述写的测试数据组与所述读的测试数据组包括：

在第一硬盘表面区域中实施用于缺陷检测的第一标准；以及

在第二硬盘表面区域中实施第二标准，所述第二标准具有比所述第一标准小的缺陷检测阈值。

10.根据权利要求9的方法，其特征在于所述第一硬盘表面区域包括数据区域以及所述第二硬盘表面区域包括同步标记区域。

11.根据权利要求10的方法，其特征在于所述第二硬盘表面区域包括围绕同步标记的窗口。

12.根据权利要求11的方法，其特征在于在所述第二硬盘表面区域中实施具有所述较小的缺陷检测阈值的所述第二标准包括：在围绕所述同步标记的具有可选的尺寸的窗口中实施具有所述较小的缺陷检测阈值的所述第二标准。

13.根据权利要求9的方法，其特征在于在所述数据区域中实施用于缺陷检测的所述第一标准包括不映射小于错误修正代码(ECC)阈值尺寸的缺陷。

14.根据权利要求13的方法，其特征在于在所述第二硬盘表面区域中实施具有所述较小的缺陷检测阈值的所述第二标准包括仅仅当所述缺陷存在于所述第二硬盘表面区域中时检测并映射小于所述ECC阈值尺寸的缺陷。

15.一种磁盘驱动器装置，其特征在于包括：

磁盘，包括多个扇区，每个扇区具有多个轨道；

存储介质，位于所述磁盘驱动器装置内，被配置为存储缺陷位置的缺陷表，与所述缺陷位置对应的缺陷包括：

第一区域中的大于第一阈值尺寸的一个或多个缺陷；

第二区域中的小于所述第一阈值尺寸但大于第二阈值尺寸的一个或多个缺陷。

16.根据权利要求15的磁盘驱动器装置，其特征在于所述第一区域包括数据区域以及所述第二区域包括邻近扇区脉冲的区域。

17.根据权利要求16的磁盘驱动器装置，其特征在于所述第二尺寸的所述缺陷位于同步标记周围的间隔中，其中所述间隔大于或等于驱动马达抖动容差。

18.根据权利要求15的磁盘驱动器装置，其特征在于所述存储介质是所述磁盘。