[发明专利]磁盘驱动器装置及介质检测方法无效

专利信息
申请号: 200810128076.7 申请日: 2008-07-29
公开(公告)号: CN101359498A 公开(公告)日: 2009-02-04
发明(设计)人: S·G·保罗;D-D·昌 申请(专利权)人: 株式会社东芝
主分类号: G11B20/18 分类号: G11B20/18
代理公司: 北京市中咨律师事务所 代理人: 杨晓光;李峥
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 磁盘驱动器 装置 介质 检测 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及磁盘驱动器装置及介质检测方法。

背景技术

磁盘驱动器是一种信息存储设备。磁盘驱动器包括一个或多个固定到旋转轴的磁盘和至少一个用于从每个磁盘的表面读取信息表示数据和/或在每个磁盘的表面上写数据的磁头。磁头由耦合到致动器的悬臂支撑,而致动器可由音圈电机驱动。磁盘驱动器中的控制电子设备向音圈电机提供电脉冲,用于将磁头移动到磁盘上的希望的位置处以在磁盘上的轨道中读和写数据,并在不使用时或在需要时将磁头停放在安全的区域以保护磁盘驱动器。

虽然希望在磁盘表面上具有零缺陷,但是不可避免地总会存在一定程度的缺陷。管理具有介质缺陷的磁盘驱动器操作的常用的解决方案是扫描磁盘表面的缺陷并生成包含缺陷位置的图或缺陷表。以该方式,在磁盘上读或写数据时就可以避开缺陷。然而,需要不断提升缺陷检测能力以确保可靠的驱动操作。

发明内容

本发明涉及一种用于处理多方向自伺服写磁盘驱动器中的一个或一组磁盘的装置和方法,基本上排除了一个或多个由于相关技术领域的限制和不足所造成的问题。

根据本发明的实施例,一种用于检查存储设备的硬盘表面的介质缺陷的方法,包括:

在第一硬盘表面区域中实施用于缺陷检测的第一标准;以及

在第二硬盘表面区域中实施第二标准,所述第二标准具有比所述第一标准小的缺陷检测阈值。

根据本发明的实施例,一种用于检查存储设备的硬盘表面的介质缺陷的方法,包括:

使用伺服门脉冲的下降沿触发写门的断言;

在扇区中写测试数据组;

使用伺服门脉冲的下降沿触发读门的断言以读所述扇区中的所述测试数据组;以及

比较所述写的测试数据组与所述读的测试数据组,以确定介质缺陷位置。

根据本发明的实施例,一种磁盘驱动器装置,包括:

磁盘,包括多个扇区,每个扇区具有多个轨道;

存储介质,位于所述磁盘驱动器装置内,被配置为存储缺陷位置的缺陷表,与所述缺陷位置对应的缺陷包括:

第一区域中的大于第一阈值尺寸的一个或多个缺陷;

第二区域中的小于所述第一阈值尺寸但大于第二阈值尺寸的一个或多个缺陷。

附图说明

图1为根据示例性实施例的磁记录和再现装置(硬盘驱动器)的透视图;

图2为根据示例性实施例的磁盘的示意性平面图;

图3为根据示例性实施例的磁盘中的数据区的透视图;

图4为根据示例性实施例的磁盘中的伺服区和数据区的示意图;

图5为根据示例性实施例的磁盘中的伺服区和数据区中的图形(pattern)的平面图;

图6为根据示例性实施例的磁记录和再现装置(硬盘驱动器)的框图;

图7为扇区脉冲和磁介质区域的示意图;

图8为选择的磁盘驱动器的功能的示意性时序图;

图9为根据示例性实施例的磁记录和再现装置(硬盘驱动器)的框图;以及

图10为用于实现根据示例性实施例描述的方法和设备的计算机系统的示例性框图。

具体实施方式

下面,将参考附图描述本发明的示例性实施例。

图1为根据实施例的磁记录和再现装置(硬盘驱动器)的透视图。磁盘记录和再现装置包括:机壳10和其内部的磁盘11、包括读磁头和写磁头的磁头滑块16、支撑磁头滑块16的磁头悬臂组件(悬臂15和致动器臂14)、音圈电机(VCM)17以及电路板。

磁盘(离散轨道介质)11被安装在主轴马达12上并通过其旋转。各种数字数据以垂直磁记录的方式记录在磁盘11上。在示例性实施例中,并入到磁头滑块16中的磁头是集成的磁头,其包括单极结构的写磁头和使用屏蔽磁阻(MR)读部件(例如GMR膜或TMR膜)的读磁头。悬臂15固定在致动器臂14的一端,以支撑磁头滑块16面向磁盘11的记录表面。致动器臂14被附着到枢轴13。驱动致动器臂的音圈马达(VCM)17位于致动器臂的另一端。VCM 17驱动磁头悬臂组件以将磁头定位在磁盘11的任意径向位置。电路板包括用以产生用于VCM的驱动信号和用于控制磁头进行读和写操作的控制信号的磁头IC。

图2为根据实施例的磁盘11的示意性平面图。图2示出了数据区18和伺服区19。用户数据被记录在每一个数据区18中。该示例性磁盘具有由同心磁性图形形成的轨道。后面将结合图3示例性地描述记录轨道。在作为不同磁化材料的图形的伺服区19的每一个中形成用于定位磁头的伺服数据。在磁盘表面上,伺服区19的形状类似于与访问期间的磁头滑块的轨迹相对应的圆弧。

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