[发明专利]基板处理装置以及基板处理方法有效
申请号: | 200810129592.1 | 申请日: | 2008-07-02 |
公开(公告)号: | CN101359584A | 公开(公告)日: | 2009-02-04 |
发明(设计)人: | 小路丸友则;宫胜彦 | 申请(专利权)人: | 大日本网目版制造株式会社 |
主分类号: | H01L21/00 | 分类号: | H01L21/00 |
代理公司: | 隆天国际知识产权代理有限公司 | 代理人: | 马少东 |
地址: | 日本京都*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 处理 装置 以及 方法 | ||
1.一种基板处理方法,其特征在于,包括:
湿式处理工序,在以第一速度使近似水平状态的基板旋转的同时,使用处理液对上述基板的表面实施湿式处理;
浸液形成工序,将上述基板的转速减速为第二速度并在上述基板上呈浸泡状形成上述处理液的液膜;
置换区域形成工序,在将上述基板的转速维持为上述第二速度以下的同时,向上述基板的表面中央部供给表面张力比上述处理液低的低表面张力溶剂,利用上述低表面张力溶剂形成置换区域;
置换工序,向上述表面中央部供给上述低表面张力溶剂,使上述置换区域在上述基板的直径方向上扩大,将整个上述基板表面置换为上述低表面张力溶剂;
干燥工序,在上述置换工序后从上述基板表面除去上述低表面张力溶剂,使该基板表面干燥,
上述置换工序在比上述置换区域形成工序更高的转速下被执行。
2.如权利要求1所述的基板处理方法,其特征在于,
在上述置换工序中,以比上述第二速度高的转速使上述基板旋转。
3.如权利要求2所述的基板处理方法,其特征在于,
在上述置换工序中,上述基板的转速随着时间的经过而加速。
4.如权利要求3所述的基板处理方法,其特征在于,
在上述置换工序中,上述基板的转速分多阶段加速,使转速加速时的加速度伴随着上述转速的增加而提高。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造