[发明专利]发光元件及其制造方法有效
申请号: | 200810129835.1 | 申请日: | 2008-08-07 |
公开(公告)号: | CN101645475A | 公开(公告)日: | 2010-02-10 |
发明(设计)人: | 秦玉玲;周理评;杨宇智;杨于铮;陈纬守;郭政达 | 申请(专利权)人: | 晶元光电股份有限公司 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00;H01L31/18;H01L21/28;H01L21/288;H01S5/00 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 彭久云 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 发光 元件 及其 制造 方法 | ||
技术领域
本发明揭示一种光电元件的制造方法,特别涉及一种光电元件的电极制 造方法。
背景技术
随着半导体材料日渐广泛地应用于发光二极管(Light-emitting Diode, LED)、激光二极管(Laser Diode,LD)与太阳能电池(Photovoltaic Cell)等光电 元件(Photoelectric Device)上,为了降低生产成本,简化现今工艺步骤以提高 生产效率已成为相关业界亟欲解决的问题之一。
图1A至图1G为已知的光电元件制造流程结构示意图;如图1A所示, 首先提供一基板10,其中基板10为一导电基板;接着如图1B所示,形成 一半导体叠层12于基板10上,其中此半导体叠层12由上而下至少包含一 第一导电型半导体层120、一有源层122,以及一第二导电型半导体层124; 再如图1C所示,利用蒸镀技术于发光叠层12上形成一金属层14;接着, 如图1D所示,在金属层14上形成一光阻(photoresist)16;随后如图1E所示, 利用光线透过光掩模18使部分光阻16产生反应,仅留下一部分的光阻16’ 于金属层14上;接着,如图1F所示,蚀刻未覆盖光阻16的金属层14,以 形成一第一电极20;最后,再如图1G所示,移除光阻16,并且再利用蒸镀 于基板10下形成一第二电极22,以获得一光电元件100。
由上述已知的光电元件制造方法可以得知,已知光电元件中电极大小与 电极位置通过光掩模18上光掩模孔180的大小与位置来定义。然而,一般 于上述利用蒸镀技术形成金属层的步骤仅能采用一种金属材料,金属材料的 选择亦受限于蒸镀技术本身。不仅如此,形成金属层后还需要进一步地利用 曝光、显影、蚀刻以及去光阻的技术以移除部分金属层以形成一电极,增加 了光电元件工艺工序与制造成本。
发明内容
本发明的目的为提供一光电元件制造方法,包含利用印刷技术在一半导 体叠层上形成一金属胶,再提供一能量使此金属胶形成一金属电极的步骤, 其中此金属电极与半导体叠层形成欧姆接触。
本发明的另一目的在于利用印刷技术形成金属电极,以减少光电元件的 制造工序与成本。
本发明的再一目的在于利用印刷技术形成金属电极,以增加金属电极材 料的选择,由此增加光电元件产品的多样性。
下面通过具体实施例配合所附的图示详加说明,当更容易了解本发明的 目的、技术内容、特点及其所达成的功效。
附图说明
图1A至图1G为已知的光电元件制造流程结构示意图。
图2A至图2E为本发明一实施例制造流程结构示意图。
图3为本发明实施例结构放大剖面图。
图4A至图4C为本发明另一实施例制造流程结构示意图。
图5A至图5D为本发明又一实施例制造流程结构示意图。
图6A至图6F为本发明再一实施例制造流程结构示意图。
附图标记说明
10~基板 12~半导体叠层
120~第一导电型半导体层 122~有源层
124~第二导电型半导体层 14~金属层
16、16’~光阻 18~光掩模
180~光掩模孔 20~第一电极
22~第二电极 100~光电元件
24、44、70~基板 26、46、72~半导体叠层
260、460~第一导电型半导体层
262、462~有源层 264、464~第二导电型半导体层
28、34、38~金属胶 30、35、40、52~能量
32、36、42~电极 200、300、400、500~光电元件
48、74~第一金属胶 50、78~第二金属胶
54、76~第一电极 56、80~第二电极
60~网版 62~刮刀
602~网孔 720~第一n型半导体层
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