[发明专利]图像拾取装置、图像处理方法和计算机程序无效

专利信息
申请号: 200810132398.9 申请日: 2008-07-16
公开(公告)号: CN101350886A 公开(公告)日: 2009-01-21
发明(设计)人: 来马大介;佐藤伸行 申请(专利权)人: 索尼株式会社
主分类号: H04N5/217 分类号: H04N5/217
代理公司: 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 代理人: 董方源
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 图像 拾取 装置 处理 方法 计算机 程序
【权利要求书】:

1.一种图像拾取装置,包括:

包括多个成像面的图像拾取器件,每个成像面具有不同的暗电流特 性,所述图像拾取器件在所述成像面的每一个中具有用于获取被拍摄的图 像数据的有效图像区域,在所述成像面的至少某一个中具有与构成所述有 效图像区域的各行相对应的行的光学黑体区域;

图像处理单元,用于接收来自所述图像拾取器件的信号并执行图像生 成处理;以及

存储暗电流数据表的存储单元,所述暗电流数据表用于记录包括差异 数据的数据,该差异数据是基于在具有不同暗电流特性的每个成像面中的 上部和下部区域中的有效图像区域和所述光学黑体区域之间的暗电流测量 值的,其中所述图像处理单元通过参考记录在所述暗电流数据表中的数据 对于每个成像面独立地计算在所述多个成像面的每一个中估计要生成的暗 电流,并且基于对于每个成像面计算出的暗电流值来执行暗电流消除处 理。

2.如权利要求1所述的图像拾取装置,其中:

所述图像拾取器件是通过划分曝光处理制造的,并且包括所述多个成 像面,每个成像面对应于一个曝光区域单位;并且

所述图像处理单元对于每个成像面独立地计算在与每个曝光区域单位 相对应的多个成像面的每一个中估计要生成的暗电流,并且基于对于每个 成像面计算出的暗电流值来执行所述暗电流消除处理。

3.如权利要求1所述的图像拾取装置,其中:所述光学黑体区域分别 位于各自具有不同暗电流特性的多个成像面的每一个中,并且

所述图像处理单元通过利用在设置于同一成像面中的光学黑体区域中 测得的暗电流作为参考值,来计算每个成像面中有效图像区域的暗电流 值,并且利用所述计算结果来执行对每个成像面的有效图像区域的暗电流 消除处理。

4.如权利要求3所述的图像拾取装置,其中:

所述暗电流数据表是用于记录多个数据集的表,这多个数据集是基于 在至少改变快门速度或温度的多个拍摄条件下获得的测量值的;并且

所述图像处理单元基于拍摄期间的快门速度或温度信息来从记录在所 述暗电流数据表内的多个数据集中选择条件近似于拍摄期间的条件的数据 集,并且通过参考所选的数据集来执行对每个成像面中的有效图像区域的 暗电流消除处理。

5.如权利要求3所述的图像拾取装置,其中:

所述图像拾取器件由CMOS构成;并且

所述图像处理单元从由CMOS构成的图像拾取器件按行顺序从上部行 向下部行读取信号,并且在所述图像处理单元读取的信号中包含的暗电流 与从所述图像拾取器件的上部区域向下部区域的转移成正比地增大的假设 下,利用在设置于同一成像面中的光学黑体区域中测得的暗电流作为参考 值来计算每个成像面中的有效图像区域的暗电流值,并且利用计算结果来 执行对每个成像面中的有效图像区域的暗电流消除处理。

6.如权利要求5所述的图像拾取装置,其中所述图像处理单元从由 CMOS构成的图像拾取器件按行顺序从上部行向下部行读取信号,通过利 用在同一行处或者前一行处的光学黑体区域的暗电流值作为参考值,来计 算与从其读取信号的有效图像区域的每一行相对应的信号中包含的暗电 流,并且利用计算结果来执行对每个成像面中的有效图像区域的暗电流消 除处理。

7.如权利要求6所述的图像拾取装置,其中所述图像处理单元通过利 用采用无限冲击响应滤波器的积分器的测量结果来获取在每一行处所述光 学黑体区域的暗电流值。

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