[发明专利]图像拾取装置、图像处理方法和计算机程序

说明书

技术领域

本发明涉及图像拾取装置、图像处理方法和计算机程序。更具体而言，本发明涉及诸如数字相机之类的执行消除图像拾取器件的暗电流分量的处理的图像拾取装置、图像处理方法和计算机程序。 

背景技术

诸如数字相机之类的图像拾取装置具有诸如互补金属氧化物半导体(CMOS)和电荷耦合器件(CCD)之类的图像拾取器件，并且被配置为通过在图像拾取器件处将光信号转换为电信号的处理来生成被拍摄图像。 

配备在许多常用相机中的图像拾取器件是例如小于35mm胶片(36×24mm)的小图像拾取器件。但是，近年来，已开发出配备有具有更多数目的有效像素并且能够拍摄高质量图像的大图像拾取器件的相机。例如，有一种配备有例如与35mm胶片(36×24mm)具有相同尺寸的诸如CMOS和CCD之类的大图像拾取器件的相机。 

诸如CMOS和CCD之类的图像拾取器件由半导体构成，并且需要通过半导体制造工艺(包括曝光处理)在硅衬底上形成密集的集成电路。具体而言，半导体集成电路的掩模图案通过采用步进器而在规模上得以减少，并且被印刷在硅衬底上。但是，步进器的大小存在限制，并且当要制造与35mm胶片(36×24mm)具有相同尺寸的诸如CMOS和CCD之类的大图像拾取器件时，图像拾取器件被划分为多个区域以按照每个划分的区域为单位执行曝光处理，并且通过多个曝光处理实现了整个图像拾取器件的集成电路。从而，大图像拾取器件的制造需要对每个划分区域的曝光处理。 

但是，通过划分曝光处理(步进和重复式曝光处理)制造的图像拾取器件引起了一个问题，即受每个曝光处理影响的每个划分区域的特性变得 不同。例如，如果图像拾取器件通过划分为左右半部而进行制造，则在左图像拾取器件的暗电流和右图像拾取器件的暗电流之间存在差异，从而引起了左右图像变得不同的问题。 

一般而言，在通过单个曝光处理制造的小图像拾取器件中，对形成在图像拾取器件的外围区域中的光学黑体(OPB)区域中的暗电流进行测量，并且基于测量值通过暗电流消除处理来消除暗电流。 

图像拾取器件具有这样一种结构，该结构具有用于获取图像数据的有效图像区域和形成在有效图像区域的外围区域中并且不接收光的光学黑体(OPB)区域。对OPB区域中的暗电流进行测量，并且估计与被拍摄图像相对应的用于接收光的有效图像区域中的暗电流以消除暗电流。该配置例如在日本未实审专利申请公布No.2005-312805(专利文献1)中得到公开。 

暗电流的生成量也随温度而改变，并且考虑到温度特性的暗电流消除处理也被研究。例如，日本未实审专利申请公布No.2005-130045(专利文献2)公开了这样一种配置，其中利用OPB区域测量暗电流值或暗电流噪声，并且将之与通过考虑温度特性预先获得的暗电流值数据相比较以估计图像拾取器件的温度，并且根据估计的温度执行图像校正处理(例如增益设置)。 

但是，通过早先研发的暗电流消除进行的图像校正处理基本上是一种与通过单个曝光处理制造的小图像拾取器件相兼容的处理，并且没有实现与大图像拾取器件相兼容的校正处理，该大图像拾取器件具有由上述多个制造处理引起的不同特性的设备区域。 

发明内容

因此，希望提供一种能够根据被拍摄数据通过消除每个划分区域中的暗电流来生成高质量图像的图像拾取器件、图像处理装置和计算机程序，该被拍摄数据例如是利用具有由于以划分区域为单位的制造处理而引起的不同特性的区域的图像拾取器件拍摄的。 

根据本发明的第一方面，提供了一种图像拾取装置，包括图像拾取器 件和图像处理单元，图像拾取器件包括多个成像面，每个成像面具有不同的暗电流特性；图像处理单元用于接收来自图像拾取器件的信号并执行图像生成处理。图像处理单元对于每个成像面独立地计算在多个成像面的每一个中估计要生成的暗电流，并且基于对于每个成像面计算出的暗电流值来执行暗电流消除处理。 

图像拾取器件可以是通过划分曝光处理制造的，并且包括多个成像面，每个成像面对应于一个曝光区域单位。图像处理单元可以对于每个成像面独立地计算在与每个曝光区域单位相对应的多个成像面的每一个中估计要生成的暗电流，并且基于对于每个成像面计算出的暗电流值来执行暗电流消除处理。