[发明专利]制造半导体存储器件的方法

说明书

相关申请的交叉引用

本申请要求2008年3月11日提交的韩国专利申请No.10-2008-0022558的优先权，通过引用将其全部内容并入本发明。

技术领域

本发明涉及制造半导体存储器件的方法，更具体涉及其中保护隧道绝缘层以免暴露于用于栅极图案的蚀刻工艺、从而防止对隧道绝缘层的蚀刻损伤的半导体存储器件的制造方法。

背景技术

在半导体快闪存储器件中，通常通过图案化用于浮置栅极的导电层、介电层、用于控制栅极的导电层和栅电极层来形成栅极图案。

图1是说明根据常规技术制造半导体器件的方法的半导体存储器件的截面图。

参考图1，在半导体衬底10上顺序地形成隧道绝缘层11、用于浮置栅极的导电层12、介电层13、用于控制栅极的导电层14和栅电极层15。然后，形成硬掩模图案，并且实施使用所述硬掩模图案的蚀刻工艺以图案化栅电极层15。随后，顺序地蚀刻用于控制栅极的导电层14、介电层13和用于浮置栅极的导电层12以暴露隧道绝缘层11。

在上述根据常规技术的用于在半导体存储器件中形成栅极图案的工艺中，实施蚀刻工艺直至暴露隧道绝缘层。然后，实施清洗工艺以除去在蚀刻工艺中产生的聚合物。

隧道绝缘层可受到通蚀刻工艺期间的过蚀刻或清洗工艺的损伤，从而劣化隧道绝缘层的特性。由于上述现象，在存储器件的编程操作完成之后，可引起电荷损失，由此劣化器件的数据保持特性。

发明内容

本发明的一个目的是提供制造半导体存储器件的方法，其中在用于形成半导体存储器件的栅极图案的工艺期间，在隧道绝缘层上保留具有一定厚度的导电层，然后在后续离子注入工艺中使保留的导电层单晶化(mono-crystallized)以增加导电层的电阻(resistance)，随后实施氧化过程以将导电层转变为绝缘层。根据本发明，在用于形成栅极图案的蚀刻工艺中防止隧道绝缘层暴露，使得在蚀刻工艺中或在后续清洗工艺中可引起的对隧道绝缘层的蚀刻损伤可得到抑制，由此改善半导体存储器件的电特性。

根据本发明一个实施方案的制造半导体存储器件的方法，包括以下步骤：在半导体衬底上顺序地形成隧道绝缘层、第一导电层、介电层和第二导电层；蚀刻第二导电层、介电层和第一导电层以形成栅极图案，第一导电层保留在栅极图案之间的隧道绝缘层上以防止隧道绝缘层暴露；实施清洗工艺以除去在用于形成栅极图案的蚀刻工艺中产生的杂质；实施离子注入工艺以使保留在隧道绝缘层上的第一导电层单晶化；和实施氧化工艺以在栅极图案的顶部和侧壁上形成氧化物层，并将单晶化的第一导电层转变为绝缘层。

根据本发明该实施方案的制造半导体存储器件的方法，还包括：在形成第二导电层之后，在第二导电层上顺序地形成栅电极层和硬掩模层的步骤。

保留在栅极图案之间的隧道绝缘层上的第一导电层优选具有的厚度。

附图说明

通过参考下文结合附图进行的详述，本发明的上述及其他特征和优点将变得显而易见，其中：

图1是说明根据常规技术制造半导体器件的方法的半导体存储器件的截面图；和

图2至图5是说明根据本发明一个实施方案制造半导体存储器件的方法的半导体存储器件的截面图。

具体实施方式

以下，将参考附图更详细地说明本发明的优选实施方案。然而，应该注意，本发明的以下实施方案可以具有不同的形式，因此本发明的范围不限于本发明的以下实施方案。在此提供描述以使得本领域技术人员更完全地理解本发明，而本发明的范围应该由所附的权利要求来理解。

图2至图5是说明根据本发明一个实施方案制造半导体存储器件的方法的半导体存储器件的截面图。

参考图2，在半导体衬底100上顺序地形成隧道绝缘层101、用于浮置栅极的导电层102、介电层103、用于控制栅极的导电层104、栅电极层105、和硬掩模层106。

可由多晶硅层形成用于浮置栅极的导电层102和用于控制栅极的导电层104，介电层103优选形成为包括第一氧化物层103a、氮化物层103b和第二氧化物层103c的ONO结构。栅电极层105优选由钨(W)层形成。

用于浮置栅极的导电层102优选由包括不存在杂质的非晶硅层和包含杂质的多晶硅层的双层所形成。

虽然附图中未显示，但是在形成用于控制栅极的导电层104之后，优选在形成栅电极层105之前形成扩散防止层。