[发明专利]晶体形成方式及装置有效
申请号: | 200810132695.3 | 申请日: | 2008-07-10 |
公开(公告)号: | CN101624723A | 公开(公告)日: | 2010-01-13 |
发明(设计)人: | 蓝崇文;徐文庆;许松林;陈志慧;何思桦 | 申请(专利权)人: | 昆山中辰矽晶有限公司 |
主分类号: | C30B28/06 | 分类号: | C30B28/06;C30B29/06 |
代理公司: | 北京申翔知识产权代理有限公司 | 代理人: | 周春发 |
地址: | 215316江苏省昆*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 晶体 形成 方式 装置 | ||
1.一种晶体形成方式,利用局部高冷却方式,使液相原料的径向延伸方向形成复数的 温度差异区,以控制各初成核的形成位置及生长方向,使各初成核向上成长而形成的完整多 晶硅晶体具有较高的电钝性以及单位横切面积晶界数量较少的特性;
其中该高冷却方式以局部冷却,使液相原料的径向延伸方向形成复数间隔排列的高温 区及低温区,其中各低温区上的液相原料结晶形成复数初成核,而各初成核朝二侧径向的高 温区延伸生长;
其中该液相原料容置于坩锅中,透过对坩锅底层施以局部冷却,其中该坩锅底层进一 步设有散热装置,以对坩锅底层施以局部冷却;
其中该散热装置为一散热板,其中该散热装置靠近坩锅一侧设有与坩锅接触的区段以 构成散热区,以及与坩锅不接触的非接触区段。
2.如权利要求1所述的晶体形成方式,其中该散热装置的非接触区段是靠近坩锅一 侧设有复数低于表面不连续的凹槽。
3.如权利要求2所述的晶体形成方式,其中各凹槽间形成有与坩锅底层接触的散热 区。
4.如权利要求1所述的晶体形成方式,其中该散热装置靠近坩锅一侧设有复数突出 于表面不连续的散热区。
5.如权利要求4所述的晶体形成方式,其中各散热区可以与该散热装置一体成型; 或者各散热区可以外加于该散热装置上。
6.如权利要求1所述的晶体形成方式,其中该散热装置设有复数散热管,而各散热 管一端与坩锅底层接触,其中各散热管中充填有散热介质。
7.如权利要求1所述的晶体形成方式,其中该多晶硅晶体采用沿着初成核成长方向 纵向切割的方式避开晶界。
8.一种晶体形成装置,包括有:
一坩锅,用以容置液相原料;
加热器,设于坩锅周围;
一设于坩锅底层散热装置,其中该散热装置为一散热板,其中该散热装置靠近坩锅一 侧设有与坩锅接触的区段以构成散热区,以及与坩锅不接触的非接触区段;其中该非接触区 段为复数低于表面不连续的凹槽。
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