[发明专利]晶体形成方式及装置有效
申请号: | 200810132695.3 | 申请日: | 2008-07-10 |
公开(公告)号: | CN101624723A | 公开(公告)日: | 2010-01-13 |
发明(设计)人: | 蓝崇文;徐文庆;许松林;陈志慧;何思桦 | 申请(专利权)人: | 昆山中辰矽晶有限公司 |
主分类号: | C30B28/06 | 分类号: | C30B28/06;C30B29/06 |
代理公司: | 北京申翔知识产权代理有限公司 | 代理人: | 周春发 |
地址: | 215316江苏省昆*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 晶体 形成 方式 装置 | ||
技术领域
本发明有关有多晶硅晶体成型方法及装置的改良,旨在解 决既有习知技术所成型无法使初成核的体积大型化或是具电 钝性晶界,导致由多晶硅晶体切片成型的芯片电钝性及光电转 化效率较低的课题。
背景技术
按,太阳能光电池属半导体的一种,故又称为太阳能芯片,硅 (silicon)为目前通用的太阳能电池的原料代表,其发电原理为将太阳光 能转换成电能。太阳能光电基板(Solar PV Cell)的芯片材质有很多种, 大致上可分为单晶硅(Monocrystalline Silicon)、多晶硅 (Polycrystalline/Multicrystalline Silicon)、非晶硅(Amorphous Silicon),以 及其它非硅材料,其中以单晶硅及多晶硅两类最为常见;而,单晶硅 的组成原子均按照一定的规则,产品转换效率较高,但相对的制造成 本也较为昂贵,虽然早期市场的产品仍以单晶硅为主,但由于单晶硅 的生产成本较高,加上近年来多晶硅的技术进展很快,使得多晶硅的 转换效率大幅的提高,在低成本的优势下,多晶硅已有取代单晶硅产 品的趋势。
而目前业界所普遍采用的多晶硅晶体制造技术如图1所示,于坩锅 A内将长晶的液相原料放入,在坩锅A两侧加热器A1及坩锅A底层散热 板A2的作用下,使坩锅A底层形成无数初成核1,并且令该初成核1以 单向凝固向上成长而形成一如图2所示的完整多晶硅晶体10,该多晶 硅晶体10最后采用横向切割、研磨、抛光和切片成为既定尺寸的芯片 底材,以供制作成太阳能芯片。
再者,多晶硅晶体的各初成核之间由“晶界”所区隔,利用上述 既有技术所成型的多晶硅晶体因为初成核的体积无法大型化,配合参 照图3所示,将使得习有多晶硅晶体10单位面积中具有较多数量的初成 核1,相对的晶界11的数量也较多,导致利用此多晶硅晶体10所切片成 型的芯片光电转化率低。
另外,习有制造技术所生产的多晶硅晶体其晶界多半属于活性晶 界,电子电洞经过活性晶界的区域就会被抓住,不能够发电,成为无 效的区域;但如果经过的是电钝性晶界区域,电子电洞就不受影响, 效能就如同单晶一样。因此如何控制电钝性晶界或减少活性晶界对多 晶硅晶体制造技术来讲是非常重要的。
发明内容
本发明的主要目的即在解决既有习知技术所成型无法使初成核的 体积大型化,导致由多晶硅晶体切片成型的芯片电钝性及光电转化效 率较低的课题,亦即能够有效降低芯片的电阻,并可提升电钝性,进 而增加芯片的光电转换效率。
为达上揭目的,本发明主要透过对坩锅底层施以局部高冷却方式, 使液相原料的径向延伸方向形成复数的温度差异区,以控制各初成核 的形成位置及生长方向,使各初成核向上成长而形成的完整多晶硅晶 体具有较高的电钝性以及单位横切面积晶界数量较少的特性:甚至于, 可进一步采用沿着初成核成长方向纵向切割的方式完全减少晶界。
本发明的功效之一,在于能够提升电钝性,使多晶硅晶体内部的 电子电洞不会受到影响,以增加芯片的光电转换效率。
本发明的功效之二,在于减少晶界即减少芯片内部杂质,因此同 样能够增加芯片的光电转换效率。
附图说明
图1为习有晶体成型技术的初成核形成状态示意图;
图2为利用习有晶体成型技术所完成的多晶硅晶体外观示意图;
图3为利用习有晶体成型技术所完成的多晶硅晶体横切面结构示 意图;
图4为本发明的成型装置结构示意图;
图5为本发明的成型装置放大结构示意图;
图6为本发明的另一成型装置结构立体图;
图7为本发明的初成核形成状态示意图;
图8为本发明的初成核扩大状态示意图;
图9为利用本发明所完成的多晶硅晶体外观示意图;
图10为本发明第一实施例的散热装置平面结构图;
图11为本发明第二实施例的散热装置平面结构图;
图12为本发明第三实施例的散热装置结构示意图;
图13为本发明第四实施例的散热装置结构示意图;
图14为利用本发明所完成的多晶硅晶体横切面结构示意图。
【图号说明】
A坩锅 A1加热器
A2散热板 A3散热装置
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