[发明专利]存储装置读取方法、系统和存储装置测试设备

权利要求书

1.一种存储装置测试设备，包括模式选择装置、操作设定装置和存储装置读取系统，所述存储装置读取系统包括读取控制装置和存储装置，其特征在于：

所述模式选择装置，用于在晶圆级阶段，接收芯片外部的测试模式选择信号，当所述测试模式选择信号表示进入存储装置测试模式时，将存储装置的各端口映射到芯片上对应的复用引脚上并通知操作设定装置；

所述操作设定装置，用于根据模式选择装置的通知，接收芯片外部的操作设定信号，并根据所述操作设定信号将选通的控制信号输出到存储装置对应的控制端口；

所述读取控制装置，用于发起对存储装置进行指针查询的控制信号，所述指针查询的控制信号包括：创建指向存储装置起始地址位置的指针，以所述指针指向的地址位置为起点，连续读取指定数量的地址位置所包含的信息；将指针指向与本次最后读出的信息所在地址位置相邻的下一个地址位置，继续执行以所述指针指向的当前地址位置为起点并连续读取指定数量的地址位置所包含的信息，直到读出存储装置中的所有信息；

所述存储装置，用于接收操作设定装置选通的控制信号，当所述操作设定装置选通读写控制信号时，根据烧录控制信号将烧录信号写入存储装置或接收验证控制信号并输出自身存储的信息；当所述操作设定装置选通进行指针查询的读取控制信号时，接受所述读取控制装置的指针查询，将指针遍历经过的存储地址位置中的信息输出，所述存储装置还用于存储信息。

2.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述操作设定装置包括：

封装前操作设定模块，用于在封装前根据模式选择装置的通知，接收芯片外部的操作设定信号，当所述操作设定信号表示读写有效时，选通来自芯片复用引脚的烧录控制信号并输出到存储装置对应的控制端口，或选通来自芯片复用引脚的验证控制信号并输出到存储装置对应的控制端口；当所述操作设定信号表示只读有效时，选通来自读取控制装置的读取控制信号并将其输出到存储装置对应的控制端口；

封装后操作设定模块，用于在封装后读取时接收芯片外部的操作设定信号，当所述操作设定信号表示读写有效时，选通来自芯片复用引脚的验证控制信号并输出到存储装置对应的控制端口；当所述操作设定信号表示只读有效时，选通来自读取控制装置的读取控制信号并将其输出到存储装置对应的控制端口。

3.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述读取控制装置包括：

指针创建模块，用于从读取控制装置的寄存器寻址空间中任选一个寄存器，建立表示该寄存器与存储装置起始地址位置的对应关系的指针，并将该指针指向的当前地址位置信息保存在所述寄存器中；

指针遍历模块，用于从指针指向的当前地址位置所在行的第一列开始，连续读取该行中各列存储的信息；或从指针指向的当前地址位置所在列的第一行开始，连续读取该列中各行存储的信息；读取完毕后通知指针指向更新模块；

指针指向更新模块，用于根据指针遍历模块的通知，将遍历操作所在行的下一行或遍历操作所在列的下一列作为指针指向的当前地址位置，并将该当前地址位置的信息返回给指针遍历模块。

4.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述存储装置测试设备进一步包括：

数据转换电路，用于接收存储装置输出的读取信息，将其转换成符合数据总线位宽的格式，以串行方式输出。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的设备，其特征在于，所述存储装置为非挥发性存储装置。