[发明专利]存储装置读取方法、系统和存储装置测试设备

说明书

技术领域

本发明涉及集成电路设计与测试技术，具体涉及一种存储装置测试设备。 

背景技术

目前，在集成电路应用领域，非易失性存储装置由于在电路断电后仍能够保存其中的信息，在各种嵌入式解决方案中得到了越来越广泛的应用。非易失性存储装置通常分为可多次擦写的闪存类存储装置，以及仅能够进行一次擦写、但可以多次读取的非挥发性存储装置。其中，非挥发性存储装置一般包括电可编程镕丝(EFUSE)以及一次性可编程存储装置(OTP)等，由于具有上述的一次擦写、多次读取的特点，能够提高嵌入式系统软、硬件的集成度，从而能够避免其它类型的存储装置上可能出现的由于对预设软件或系统的误操作而带来的系统故障，因而能够提高嵌入式系统的强度，在嵌入式解决方案中被广泛用作固化存储单元。 

如上所述，对非挥发性存储装置可以进行读和写两种基本操作(下文中把对非挥发性存储装置的写操作称为烧录操作，以符合本领域通常的习惯)。由于只能够进行一次烧录操作，因此需要验证烧录操作后的存储装置是否能够正常进行读取以及读取信息是否与烧录进去的信息相同，因而在集成电路测试和应用中，对非挥发性存储装置的操作通常分为烧录和读取两种，其中读取又进一步包括两次：第一次读取在封装前进行(下文称为封装前读取)，用于确保读取存储装置得到的信息(下文中简称读取信息)与烧录进去的信息(下文中简称为烧录信息)相同，即确认烧录操作成功；第二次读取则在封装后进行(下文称为封装后读取)，用于确保封装时没有损坏存储装置。 

图1示出了一种典型的16位非挥发性存储装置及其功能引脚的示意图，其中各引脚的功能如下表1所示： 

  端口名称   输入/输出类型   功能描述   A[2:0]   输入端口   行地址输入端口   B[3:0]   输入端口   列地址输入端口   Dout[15:0]   输出端口   数据输出端口   ENB   输入端口   存储装置使能端口(低电平有效)   READ   输入端口   存储装置读取使能端口(高电平有效)   PROGRAM   输入端口   烧录使能端口(高电平有效)   FSOURCE   输入端口   烧录电平输入端口   VDD   电源端口   存储装置电源端口   GND   电源端口   接地端口