[发明专利]汽轮机叶片垢样成分中全硅含量的测定方法有效

专利信息
申请号: 200810138769.4 申请日: 2008-08-05
公开(公告)号: CN101334358A 公开(公告)日: 2008-12-31
发明(设计)人: 周少玲;齐达立;封展旗 申请(专利权)人: 山东电力研究院
主分类号: G01N21/25 分类号: G01N21/25;G01N1/28
代理公司: 济南圣达专利商标事务所有限公司 代理人: 王吉勇
地址: 250002山东*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 汽轮机 叶片 成分 中全硅 含量 测定 方法
【权利要求书】:

1.一种汽轮机叶片垢样成分中全硅含量的测定方法,其特征在于:包括以下步骤:

A.称取试样0.2克,用氢氧化钠熔融法或碳酸钠熔融法在高温炉中分解试样,并冷却;

B.试样冷却后在水浴锅上用热水浸取,然后迅速加入15毫升浓盐酸,再在水浴里加热5分钟,冷却后转入500毫升容量瓶中,用高纯水冲至刻度,制得分析试液;

C.用移液管移取分析试液1.0毫升于聚乙烯塑料瓶中,用滴定管添加高纯水49毫升,摇匀,加入1毫升(1+1)盐酸溶液,摇匀,用有机玻璃移液管准确加入1毫升(1+7)氢氟酸溶液,摇匀,盖好瓶盖置于沸腾水浴锅中加热15分钟;

D.将加热好的水样置于冷水中冷却,直至瓶内水样温度为27±5℃,然后加3mol/L三氯化铝溶液3.0mL,摇匀,放置5min,加入10%钼酸铵溶液2mL,摇匀后放置5min,加10%草酸溶液2mL,摇匀,放置1min,再加1-氨基-2-萘酚-4-磺酸还原剂2mL,摇匀,放置8min;

E.在分光光度计上用660nm波长,10mm比色皿,以纯水作参比测定吸光度,把查标准曲线所得的数值再乘以50/1,即为垢样熔融后全硅SiO2含量以CSiO2表示;

F.垢样成分中二氧化硅含量XSiO2计算,计算公式为:

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