[发明专利]X射线管和X射线分析设备有效
申请号: | 200810145529.7 | 申请日: | 2008-07-28 |
公开(公告)号: | CN101355002A | 公开(公告)日: | 2009-01-28 |
发明(设计)人: | 的场吉毅;一宫丰 | 申请(专利权)人: | 精工电子纳米科技有限公司 |
主分类号: | H01J35/00 | 分类号: | H01J35/00;G01N23/223 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 柯广华;刘宗杰 |
地址: | 日本千叶*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 射线 分析 设备 | ||
1.一种X射线管,包括:
真空封闭件,所述真空封闭件具有真空内部和由透射X射线的X 射线透射膜构成的窗口;
电子束源,所述电子束源设置在所述真空封闭件内部并发射电子 束;
目标件,所述目标件设置在所述窗口的上方且用所述电子束照射 以此产生主X射线,所述主X射线穿过所述窗口射到外部样品,所述 目标件的外直径比所述窗口小;
X射线检测器装置,该X射线检测器装置设在所述真空封闭件内 部,且用于检测在从所述样品释放后从所述窗口进入的荧光X射线和 散射X射线,并用于输出携带了与所述荧光X射线和散射X射线的 能量有关的信息的信号;以及
金属热电导体单元,所述金属热电导体单元设置在所述窗口的一 部分的上方,并从所述目标件延伸到所述真空封闭件。
2.如权利要求1所述的X射线管,其中所述热电导体单元由与 所述目标件相同的材料制成。
3.如权利要求2所述的X射线管,其中所述热电导体单元制作 得比所述目标件厚。
4.一种X射线分析设备,包括:
权利要求1所述的X射线管;
分析器,所述分析器用于分析所述信号;以及
显示单元,所述显示单元用来显示所述分析器执行的分析的结 果。
5.如权利要求4所述的X射线分析设备,其中所述分析器和所 述显示单元被设置在所述真空封闭件中。
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