[发明专利]X射线管和X射线分析设备有效

专利信息
申请号: 200810145529.7 申请日: 2008-07-28
公开(公告)号: CN101355002A 公开(公告)日: 2009-01-28
发明(设计)人: 的场吉毅;一宫丰 申请(专利权)人: 精工电子纳米科技有限公司
主分类号: H01J35/00 分类号: H01J35/00;G01N23/223
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 柯广华;刘宗杰
地址: 日本千叶*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 射线 分析 设备
【权利要求书】:

1.一种X射线管,包括:

真空封闭件,所述真空封闭件具有真空内部和由透射X射线的X 射线透射膜构成的窗口;

电子束源,所述电子束源设置在所述真空封闭件内部并发射电子 束;

目标件,所述目标件设置在所述窗口的上方且用所述电子束照射 以此产生主X射线,所述主X射线穿过所述窗口射到外部样品,所述 目标件的外直径比所述窗口小;

X射线检测器装置,该X射线检测器装置设在所述真空封闭件内 部,且用于检测在从所述样品释放后从所述窗口进入的荧光X射线和 散射X射线,并用于输出携带了与所述荧光X射线和散射X射线的 能量有关的信息的信号;以及

金属热电导体单元,所述金属热电导体单元设置在所述窗口的一 部分的上方,并从所述目标件延伸到所述真空封闭件。

2.如权利要求1所述的X射线管,其中所述热电导体单元由与 所述目标件相同的材料制成。

3.如权利要求2所述的X射线管,其中所述热电导体单元制作 得比所述目标件厚。

4.一种X射线分析设备,包括:

权利要求1所述的X射线管;

分析器,所述分析器用于分析所述信号;以及

显示单元,所述显示单元用来显示所述分析器执行的分析的结 果。

5.如权利要求4所述的X射线分析设备,其中所述分析器和所 述显示单元被设置在所述真空封闭件中。

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