[发明专利]一种用于测试无线基站侧基带处理芯片多径解调的方法和装置

权利要求书

1.一种用于测试无线基站侧基带处理芯片多径解调的方法，其特征在于， 包括下列步骤：

步骤A：建立虚拟测试UE，并设置多径搜索窗起始位置，在预定数目范 围内产生随机数目的多径；

步骤B：向所述虚拟测试UE添加上述步骤A产生的多径，被测试的基带 处理芯片开始解调；

步骤C：不断产生新的多径，所述新产生的多径落在所述多径搜索窗内， 所述搜索窗起始位置向右或向左漂预定步进长度；

步骤D：对所述虚拟测试UE的多径进行管理，被测试的基带处理芯片开 始解调；

步骤E：重复步骤C、步骤D，直到搜索窗起始位置漂移到预定位置。

2.如权利要求1所述的用于测试无线基站侧基带处理芯片多径解调的方 法，其特征在于，完成步骤E后，删除测试UE多径，删除测试UE，然后从 步骤A开始重新测试。

3.如权利要求1所述的用于测试无线基站侧基带处理芯片多径解调的方 法，其特征在于，步骤A中设置多径搜索窗起始位置在帧头。

4.如权利要求1所述的用于测试无线基站侧基带处理芯片多径解调的方 法，其特征在于，在步骤B和步骤D中，被测试的基带处理芯片开始解调后， 进一步包括下列步骤：通过读取所述处理芯片中解调结果判断是否出错。

5.如权利要求1所述的用于测试无线基站侧基带处理芯片多径解调的方 法，其特征在于，在所述步骤D中，根据新产生的多径对所述虚拟测试UE 的多径进行管理，包括对原有径相位更新、删除多余径或添加多径。

6.如权利要求5所述的用于测试无线基站侧基带处理芯片多径解调的方 法，其特征在于，在所述步骤B和所述步骤D中，所述添加多径为：在本次 操作多径条数NewFingerNum大于上次操作多径条数OldFingerNum时，对上 次操作多径进行多径偏移处理以及添加新径，并保证所有多径落在当前搜索窗 内，即所有多径的相位为当前搜索窗起始位置PathOffset至PathOffset＋搜索 窗宽度内的随机值。

7.如权利要求2所述的用于测试无线基站侧基带处理芯片多径解调的方 法，其特征在于，在所述步骤D中，包括下列步骤：在本次操作多径条数 NewFingerNum小于等于上次操作多径条数OldFingerNum时，随机删除数目 为OldFingerNum－NewFingerNum的径，并对剩下的多径进行多径偏移处理。

8.如权利要求2所述的用于测试无线基站侧基带处理芯片多径解调的方 法，其特征在于，在所述步骤E中，搜索窗起始位置漂移到预定位置为，搜 索窗起始位置PathOffset至少超过一帧，即PathOffset>38400chips。

9.如权利要求1所述的用于测试无线基站侧基带处理芯片多径解调的方 法，其特征在于，在无线基站侧的天线数据以噪声数据为信号源，且已经通过 与仿真结果比较方式验证了所述被测试的基带处理芯片解静态多径的正确性 时，进一步包括下列步骤：

建立一个参考UE，所述参考UE的多径相位与时延与所述测试UE的多 径相位与时延相同，并接收所述被测试的基带处理芯片解调后的数据，通过比 较两者的解调结果，判断所述测试UE解调结果是否正确。

10.如权利要求6所述的用于测试无线基站侧基带处理芯片多径解调的方 法，其特征在于，所述新产生的多径的相位通过如下方式确定：

在搜索窗起始位置PathOffset至（PathOffset+跳动范围－搜索窗宽度－预 定步长）范围内取一随机值TempOffset，即本次多径相位在上次的基础上可在 跳动范围内跳动；在TempOffset至TempOffset＋搜索窗宽度内产生 NewFingerNum个随机值，其中，TempOffset为搜索窗起始位置的临时变量。