[发明专利]一种用于测试无线基站侧基带处理芯片多径解调的方法和装置

说明书

技术领域

本发明涉及无线通信、数字集成电路技术领域，特别涉及一种用于测试无 线基站侧基带处理芯片多径解调的方法和装置。

背景技术

基站侧基带处理集成电路设计不像一般软件开发，可以随时维护升级，芯 片只要检测出存在不满足系统功能与性能的故障，就必须得改版重新设计，不 仅需要延长芯片开发周期，而且也会大大提高产品成本，所以必须制定一个完 备、严谨的测试方案，设计有效的测试用例来做验证与测试。

一般的验证与测试方法是在做集成电路开发的同时设计好仿真链路或参 考模型，用仿真链路产生的参考结果与实际测试结果比较，在现场可编程门阵 列(FPGA)验证阶段也可通过上架系统测试，通过使用实际的移动终端来验 证集成电路是否满足设计要求。

在通用陆地移动信道中，无线电波传输的特点是多反射、衍射和信号能量 的衰减。这是由于空间存在一些必然的障碍，如建筑物、山丘、隧道等造成的， 从而产生了所谓的多径传播的结果，如附图1所示。由于无线终端在不停的移 动，环境不断的变化，所以基站侧收到多径的相位，多径的条数、能量、时延 及频偏也在不断的变化。显然通过仿真链路模拟各种条件产生参考数据来验证 测试集成电路工作在不断变化的环境中的功能与性能是有局限的，不可能人为 模拟这么多场景，场景千变万化很难考虑周全，而且时间上也不允许；在上架 系统外场测试中，通过车载移动终端在实际环境中穿行来测试集成电路，也不 能保证测试车能跑遍各种环境，首先车载终端只能沿着道路移动，碰到障碍或 不存在道路的环境就无法测试，即使在广阔的平原也不能覆盖式地跑遍，所以 无法保证测试的覆盖率。

发明内容

本发明的目的在于，提供一种用于测试无线基站侧基带处理芯片多径解调 的方法。

本发明的另一目的在于，提供一种用于测试无线基站侧基带处理芯片多径 解调的装置。

本发明的用于测试无线基站侧基带处理芯片多径解调的方法，包括下列步 骤：

步骤A：建立虚拟测试UE，并设置多径搜索窗起始位置，在预定数目范 围内产生随机数目的多径；

步骤B：向所述虚拟测试UE添加上述步骤A产生的多径，被测试的基带 处理芯片开始解调；

步骤C：不断产生新的多径，所述新产生的多径落在所述多径搜索窗内， 所述搜索窗起始位置向右或向左漂预定步进长度；

步骤D：对所述虚拟测试UE的多径进行管理，被测试的基带处理芯片开 始解调；

步骤E：重复步骤C、步骤D，直到搜索窗起始位置漂移到预定位置。

其中，在完成步骤E后，可以删除测试UE多径，删除测试UE，然后从 步骤A开始重新测试。

另外，步骤A中设置多径搜索窗起始位置在帧头。

其中，在步骤B和步骤D中，被测试的基带处理芯片开始解调后，可进 一步包括下列步骤：通过读取所述处理芯片中解调结果判断是否出错。

其中，在所述步骤D中，根据新产生的多径对所述虚拟测试UE的多径进 行管理，包括对原有径相位更新、删除多余径或添加多径。

其中，在所述步骤B和所述步骤D中，所述添加多径为：在本次操作多 径条数NewFingerNum大于上次操作多径条数OldFingerNum时，对上次操作 多径进行多径偏移处理以及添加新径，并保证所有多径落在当前搜索窗内，即 所有多径的相位为当前搜索窗起始位置PathOffset至PathOffset+搜索窗宽度 内的随机值。

其中，在所述步骤D中，包括下列步骤：在本次操作多径条数 NewFingerNum小于等于上次操作多径条数OldFingerNum时，随机删除数目 为OldFingerNum-NewFingerNum的径，并对剩下的多径进行多径偏移处理。

其中，在所述步骤E中，搜索窗起始位置漂移到预定位置为，搜索窗起 始位置PathOffset至少超过一帧，即PathOffset>38400chips。

另外，在无线基站侧的天线数据以噪声数据(信号幅度非零)为信号源， 且已经通过与仿真结果比较方式验证了所述被测试的基带处理芯片静态多径 的正确性时，在所述步骤A中，进一步包括下列步骤：建立一个参考UE，所 述参考UE的多径相位与时延与所述测试UE的多径相位与时延相同，并接收 所述被测试的基带处理芯片解调后的数据，通过比较两者的解调结果，判断所 述测试UE解调结果是否正确。