[发明专利]可减少芯片电源电压降的集成电路封装方法及电路装置无效
申请号: | 200810148804.0 | 申请日: | 2008-09-12 |
公开(公告)号: | CN101673689A | 公开(公告)日: | 2010-03-17 |
发明(设计)人: | 杨智安;张明忠 | 申请(专利权)人: | 晨星软件研发(深圳)有限公司;晨星半导体股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/50 | 分类号: | H01L21/50;H01L21/60;H01L21/52;H01L23/488;H01L23/02 |
代理公司: | 北京市浩天知识产权代理事务所 | 代理人: | 刘云贵 |
地址: | 518057广东省深圳市高*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 减少 芯片 电源 电压 集成电路 封装 方法 电路 装置 | ||
1.一种可减少芯片电源电压降的集成电路封装方法,其特征在于,它包含有:
形成一导线架,该导线架包含一芯片托盘及复数个引脚;
将该芯片固定于该芯片托盘上,并将该芯片的复数个讯号接收及输出端耦接于该复数个引脚;
形成一电源传输单元,该电源传输单元可耦接于一电源;
将该芯片的复数个逻辑闸单元的电源接收端耦接于该电源传输单元;以及
形成一壳体,用以包覆该芯片、该导线架及该电源传输单元。
2.如权利要求1所述的可减少芯片电源电压降的集成电路封装方法,其特征在于,其中该芯片托盘耦接于一地端。
3.如权利要求2所述的可减少芯片电源电压降的集成电路封装方法,其特征在于,其另包含将该芯片的复数个接地端耦接于该芯片托盘。
4.如权利要求1所述的所述的可减少芯片电源电压降的集成电路封装方法,其特征在于,其中该电源传输单元可透过该复数个引脚中一引脚耦接于该电源。
5.如权利要求1所述的所述的可减少芯片电源电压降的集成电路封装方法,其特征在于,其中该电源传输单元形成于该壳体中相异于该芯片托盘的区域。
6.如权利要求1所述的所述的可减少芯片电源电压降的集成电路封装方法,其特征在于,其中该电源传输单元包含复数个电源传输子单元,每一电源传输子单元对应于一特定电压。
7.一种可减少电源电压降的集成电路装置,其特征在于,它包含有:
一导线架,包含一芯片托盘及复数个引脚;
一电源传输单元,可耦接于一电源;
一芯片,固定于该芯片托盘上,包含有复数个讯号接收及输出端耦接于该复数个引脚,及复数个逻辑闸单元的电源接收端耦接于该电源传输单元;以及
一壳体,用以包覆该芯片、该导线架及该电源传输单元。
8.如权利要求7所述的可减少电源电压降的集成电路装置,其特征在于,其中该芯片托盘耦接于一地端。
9.如权利要求8所述的可减少电源电压降的集成电路装置,其特征在于,其中该芯片另包含复数个接地端,耦接于该芯片托盘。
10.如权利要求7所述的可减少电源电压降的集成电路装置,其特征在于,其中该电源传输单元是该复数个引脚中耦接于该电源的一引脚。
11.如权利要求7所述的可减少电源电压降的集成电路装置,其特征在于,其中该电源传输单元是透过该复数个引脚中一引脚耦接于该电源。
12.如权利要求7所述的可减少电源电压降的集成电路装置,其特征在于,其中该电源传输单元形成于该壳体中相异于该芯片托盘的区域。
13.如权利要求7所述的可减少电源电压降的集成电路装置,其特征在于,其中该电源传输单元形成于该芯片托盘上方。
14.如权利要求13所述的可减少电源电压降的集成电路装置,其特征在于,其另包含一绝缘单元,设于该电源传输单元与该芯片托盘间。
15.如权利要求7所述的可减少电源电压降的集成电路装置,其特征在于,其中该电源传输单元包含复数个电源传输子单元,每一电源传输子单元对应于一特定电压。
16.如权利要求15所述的可减少电源电压降的集成电路装置,其特征在于,其另包含复数个绝缘单元,分别设于该复数个电源传输子单元中相邻电源传输子单元间。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于晨星软件研发(深圳)有限公司;晨星半导体股份有限公司,未经晨星软件研发(深圳)有限公司;晨星半导体股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200810148804.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:在发酵过程中具有改良生产水平的α-淀粉酶的变体
- 下一篇:透明固体皂
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造