[发明专利]一种利用X射线曝光方程式选取曝光参数的方法

说明书

一、技术领域：

本发明涉及一种管道X射线探伤方法，尤其是涉及一种利用X射线曝光方程式选取曝光参数的方法。

二、背景技术：

背景技术中，小径管环焊缝进行X射线探伤，使用曝光曲线选取的曝光参数，由于多种原因致使误差较大。一般把管子公称直径D_e≤100mm的管子称为小径管。阶梯试块制作的X射线曝光曲线，用于小径管环焊缝X射线探伤选取曝光参数时，由于平面与圆弧面的差异、实际透照厚度值连续变化、实际透照厚度比很大、焊缝区与母材区厚度比很大等原因，致使实际X射线探伤时，选取透照厚度是估算选取，误差较大。它直接影响着X射线底片的黑度及X射线探伤灵敏度。

三、发明内容：

本发明为了解决上述背景技术中的不足之处，提供一种利用X射线曝光方程式选取曝光参数的方法，其使用X射线曝光方程式，选取小径管环焊缝X射线探伤的曝光参数，对X射线探伤灵敏度、厚度宽容度及底片黑度的控制，起到了良好的效果。

为实现上述目的，本发明采用的技术方案为：

一种利用X射线曝光方程式选取曝光参数的方法，其特征在于：

(1)在现场实际使用中，利用原来曝光曲线，选择若干带有估计性的曝光参数，对小径管环焊缝进行透照，得到若干X射线底片；

(2)从这些X射线底片中，选择出技术参数满足要求的X射线底片底片；记录下每张底片的管电压V；曝光时间t；透照厚度TA；把V作为应变量，把TA；t作为自变量，在坐标纸上将每一组数据V、T、t用叉点作成散点图，观察散点图，得出X射线曝光原始方程式如下：

V＝＝a₀+a₁t+a₂TA

这个X射线曝光原始方程式方程，在几何上表示一个平面，可解决曝光曲线中变化参数无法连续的问题；

(3)用最小二乘法原理来确定代定系数a₀、a₁、a₂。为使离正确曲线误差最小，即使：φ(a₀、a₁、a₂)＝∑(V-a₀-a₁t-a₂TA)²达到极小值，为此分别对a₀、a₁、a₂求偏微商，并令其等于零，得正规方程：

{l₁₁a₁+l₁₂a₂＝＝l₁V    a₀＝＝V-a₁t-a₂TA

{l₂₁a₁+l₂₂a₂＝＝l₂V

其中：l₁₁＝＝∑t_m²-1//N(∑t_m)(∑t_m)

l₁₂＝＝∑t_mTA_m-1//N(∑t_m)(∑TA_m)＝＝l₂₁

l₂₂＝＝∑TAm²-1/N(∑TA m)(∑TA_m)

V＝＝1//N ∑Vm；TA＝1/N ∑TA m；t＝＝1//N∑t_m

l₁V＝＝∑Vm tm-1//N(∑tm)(∑Vm)

l₂V＝＝∑Vm TA m-1//N(∑TA m)(∑Vm)；

(4)解此方程组，就可以得到待定系数a₀、a₁、a₂；

(5)将待定系数a₀、a₁、a₂代入X射线曝光原始方程式中，即可得到X射线曝光方程式。

与现有技术相比，本发明具有的优点和效果如下：

本发明使用↑射线曝光方程式，选取小径管环焊缝X射线探伤的曝光参数，对X射线探伤灵敏度、厚度宽容度及底片黑度实现用数据加□控制，避免了平面与曲面的区别带来的估算误差给现场施工带来很大方便。