[发明专利]布图方法以及显示元件无效
申请号: | 200810165628.1 | 申请日: | 2008-09-19 |
公开(公告)号: | CN101431843A | 公开(公告)日: | 2009-05-13 |
发明(设计)人: | 西田伸洋 | 申请(专利权)人: | 富士胶片株式会社 |
主分类号: | H05B33/10 | 分类号: | H05B33/10;B32B9/00 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人: | 陈建全 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 方法 以及 显示 元件 | ||
1.一种显示元件用基板的布图方法,所述显示元件用基板具有由至少1个有机区域和至少1个无机区域构成的气体阻隔层,所述布图方法的特征在于,通过使用弱酸或弱碱的蚀刻液进行湿法蚀刻来进行布图。
2.根据权利要求1所述的布图方法,其特征在于,所述蚀刻液中所包含的弱酸或者弱碱的pKa在0.5~10的范围内。
3.根据权利要求1所述的布图方法,其特征在于,所述蚀刻液选自草酸溶液、醋酸溶液、碳酸溶液和磷酸溶液、以及它们的2种以上的混合液。
4.根据权利要求1所述的布图方法,其特征在于,所述蚀刻液为草酸水溶液。
5.根据权利要求1~4任一项所述的布图方法,其特征在于,所述显示元件用基板具有透明电极,对该透明电极进行布图。
6.根据权利要求1~4任一项所述的布图方法,其特征在于,所述显示元件用基板具有阳极薄膜层,对该阳极薄膜层进行布图。
7.根据权利要求1~4任一项所述的布图方法,其特征在于,所述显示元件用基板具有ITO薄膜层,对该ITO薄膜层进行布图。
8.根据权利要求1~4任一项所述的布图方法,其特征在于,所述气体阻隔层具有至少1层有机层和至少1层无机层层叠而成的结构。
9.根据权利要求8所述的布图方法,其特征在于,所述至少1层有机层和所述至少1层无机层交替层叠。
10.一种显示元件用基板,其特征在于,使用权利要求1~9任一项所述的布图方法进行布图。
11.一种显示元件的制造方法,其特征在于,包括使用权利要求1~9任一项所述的布图方法对基板进行布图。
12.一种显示元件,其特征在于,该显示元件是通过权利要求11所述的方法制造的。
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