[发明专利]片上系统芯片和对片上系统芯片进行测试的方法

权利要求书

1.一种片上系统芯片，包括处理器、DMA，其中，所述处理器、 所述DMA通过总线MUX连接至外设和/或加速器并能够选择 所述外设和/或所述加速器，其特征在于，所述片上系统芯片 进一步包括：

第一IO MUX，用于将来自外部测试信号发生器的测试数 据传送到总线MUX上，并由所述总线MUX选择并驱动外设 或者加速器进行测试；

至少一个结果和状态模块，用于接收对所述外设和/或所 述加速器的测试结果，并将所述测试结果发送到相应的第二 IO MUX；

至少一个所述第二IOMUX，用于将所述测试结果发送到 外部测试数据分析器，以实现对所述测试结果的分析。

2.根据权利要求1所述的芯片，其特征在于，进一步包括：

至少一个中断控制器，用于通过产生中断来控制所述结果 和状态模块进行测试结果的输出。

3.根据权利要求2所述的芯片，其特征在于，所述至少一个中断 控制器连接至所述外部测试数据分析器，并用于将标识所述中 断控制器状态是否正常的数据发送至所述外部测试数据分析 器。

4.根据权利要求1所述的芯片，其特征在于，进一步包括：

至少一个安全保险模块，用于在测试完成之后，废弃测试 总线。

5.根据权利要求1所述的芯片，其特征在于，进一步包括与所述 外部测试信号发生器连接的管脚，其中，所述管脚用于将所述 测试数据传输至所述第一IO MUX，并用于通过所述第一IO MUX实现所述片上系统芯片内的模块复用。

6.根据权利要求1所述的芯片，其特征在于，进一步包括：

寄存器，用于通过所述第一IO MUX实现与所述外部测 试信号发生器的数据读写，以供所述外部测试信号发生器判断 所述片上系统芯片的模块功能是否正常。

7.根据权利要求1所述的芯片，其特征在于，所述外部测试数据 分析器用于根据所述测试结果判断所述片上系统芯片是否正 常。

8.一种对片上系统芯片进行测试的方法，其特征在于，所述方法 包括：

外部测试信号发生器产生测试数据以通过管脚驱动所述 片上系统芯片中需要测试的处理器的总线；

第一IO MUX将所述管脚连接到总线MUX上，由所述总 线MUX选择外设或加速器并通过相应的通路对所选的外设或 加速器提供驱动；

所述外设或所述加速器将测试结果通过结果和状态模块 发送到外部测试数据分析器，以供所述外部测试数据分析器对 所述测试结果进行分析。

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述外设或所述加 速器将测试结果通过结果和状态模块发送到外部测试数据分 析器的具体处理为：

所述外设或所述加速器将测试结果发送到所述结果和状 态模块；

所述结果和状态模块将所述测试结果通过第二IOMUX 发送到所述外部测试数据分析器。

10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，所述外部测试数据 分析器对所述测试结果进行分析之后，所述方法进一步包括：

所述外部测试数据分析器根据分析结果判断测试是否通 过；

并在测试完成后，废弃测试总线。