[发明专利]片上系统芯片和对片上系统芯片进行测试的方法

说明书

技术领域

本发明涉及通信领域，并且特别地，涉及一种片上系统芯片和 对片上系统芯片进行测试的方法。

背景技术

目前，集成电路的片上系统芯片(System On Chip，简称为SOC) 被广泛地应用于通信，航空，控制等领域，SOC的集成度越来越高， 例如，用于手机基带及应用芯片是包含微控制单元(Micro Controller Unit，简称为MCU)和数字信号处理(Digital Signal Processing，简 称为DSP)在内的多核SOC。

相关技术中，对于复杂的信号处理，是通过硬件加速器的方法 挂在DSP或MCU的总线上来实现。当这种复杂的SOC芯片出厂 时，通常使用诸如边界扫描(boundary scan)、测试机(tester)的方 法来检测芯片的好坏。

这种通用的测试方法并不能完全确保测试后芯片的功能，特别 是上述复杂的加速器的功能。而另外的诸如trace的方法仅适合于 debug，并不利于芯片功能的快速测试。此外，相关技术中还存在使 用系统总线提供测试向量进行芯片测试的方法，但主要是使用信号 仿真单元将主机输出的测试信号转换为基于目标测试主机接口标准 的测试信号，并输出给外部测试芯片来实现测试的，但是，上述的 处理并没有涉及到芯片内部的架构设计。然而，目前尚未提出能够 解决针对无法有效地快速测试SOC芯片的功能的问题的技术方案。

发明内容

考虑到目前无法有效地快速测试SOC芯片的功能的问题而做 出本发明，为此，本发明的主要目的在于提供一种片上系统芯片和 对片上系统芯片进行测试的方法，以解决相关技术中的上述问题。

根据本发明的一个方面，提供了一种片上系统芯片，包括处理 器、DMA，其中，处理器、DMA通过总线MUX连接至外设和/或 加速器并能够选择外设和/或加速器。

根据本发明的片上系统芯片进一步包括：第一IO MUX，用于 将来自外部测试信号发生器的测试数据传送到总线MUX上，并由 总线MUX选择并驱动外设或者加速器进行测试；至少一个结果和 状态模块，用于接收对外设和/或加速器的测试结果，并将测试结果 发送到相应的第二IO MUX；至少一个第二IOMUX，用于将测试结 果发送到外部测试数据分析器，以实现对测试结果的分析。

此外，上述芯片进一步包括：至少一个中断控制器，用于通过 产生中断来控制结果和状态模块进行测试结果的输出。

其中，至少一个中断控制器连接至外部测试数据分析器，并用 于将标识中断控制器状态是否正常的数据发送至外部测试数据分析 器。

此外，上述芯片进一步包括：至少一个安全保险模块，用于在 测试完成之后，废弃测试总线。

此外，上述芯片进一步包括与外部测试信号发生器连接的管脚， 其中，管脚用于将测试数据传输至第一IO MUX，并用于通过第一 IO MUX实现片上系统芯片内的模块复用。

此外，上述芯片进一步包括：寄存器，用于通过第一IO MUX 实现与外部测试信号发生器的数据读写，以供外部测试信号发生器 判断片上系统芯片的模块功能是否正常。

其中，外部测试数据分析器用于根据测试结果判断片上系统芯 片是否正常。

根据本发明的另一方面，提供了一种对片上系统芯片进行测试 的方法。

根据本发明的对片上系统芯片进行测试的方法包括：外部测试 信号发生器产生测试数据以通过管脚驱动片上系统芯片中需要测试 的处理器的总线；第一IO MUX将管脚连接到总线MUX上，由总 线MUX选择外设或加速器并通过相应的通路对所选的外设或加速 器提供驱动；外设或加速器将测试结果通过结果和状态模块发送到 外部测试数据分析器，以供外部测试数据分析器对测试结果进行分 析。

其中，外设或加速器将测试结果通过结果和状态模块发送到外 部测试数据分析器的具体处理为：外设或加速器将测试结果发送到 结果和状态模块；结果和状态模块将测试结果通过第二IOMUX发 送到外部测试数据分析器。

此外，外部测试数据分析器对测试结果进行分析之后，上述方 法进一步包括：外部测试数据分析器根据分析结果判断测试是否通 过；并在测试完成后，废弃测试总线。