[发明专利]存储器的测试方法

权利要求书

1.一种存储器的测试方法，用以测试一存储器的数据写入与数据读取的功 能，其特征在于，该存储器的测试方法包括以下步骤：

步骤A：一测试电脑准备一程序代码，该程序代码包含产生一测试数据的 一算法、一数据比对操作以及一测试结果的记录操作，接着进入步骤B；

步骤B：该测试电脑传送该程序代码至一控制器，该控制器包括一接口电 路、一微处理器、一随机存取存储器、一只读存储器以及一逻辑电路，其中该 接口电路接收该程序代码与设定数据并传送给该只读存储器，该逻辑电路处理 该存储器的数据存取，接着进入步骤C；

步骤C：该控制器的该逻辑电路抹除该存储器的一目标区块，进入步骤D；

步骤D：该控制器的该逻辑电路写入该测试数据至该存储器的该目标区块 内，进入步骤E；

步骤E：该控制器的该逻辑电路读取该存储器的该目标区块所储存的一储 存数据，进入步骤F；

步骤F：该控制器的该逻辑电路比对该测试数据与所读取的该储存数据， 进入步骤G；

步骤G：该控制器记录一比对结果，进入步骤H；

步骤H：如果未完成存储器的所有区块的测试，则回到步骤C，如果完成 存储器的所有区块的测试，则进入步骤I；

步骤I：产生一存储器测试文件并传送至该测试电脑，进入步骤J；以及

步骤J：结束操作；

其中，该微处理器撷取该只读存储器内的该程序代码，用以控制该逻辑电 路执行通过该算法产生该测试数据、对该存储器的数据存取操作、该数据比对 操作以及该测试结果的记录操作。

2.根据权利要求1所述的存储器的测试方法，其特征在于，其中该步骤G 的该比对结果为在该测试数据与该储存数据比对正确时将该目标区块记录成 一良好区块，而在该测试数据与该储存数据比对不正确时将该目标区块记录成 一损坏区块。

3.根据权利要求1所述的存储器的测试方法，其特征在于，其中该随机 存取存储器提供一数据暂存空间给该控制器。

4.根据权利要求1所述的存储器的测试方法，其特征在于，其中该步骤I 的该存储器测试文件包括该步骤G的该比对结果。

5.根据权利要求1所述的存储器的测试方法，其特征在于，其中该接口 电路包括USB接口电路。

6.根据权利要求1所述的存储器的测试方法，其特征在于，其中该存储 器包括一闪存。