[发明专利]存储器的测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种存储器的测试方法，尤其涉及利用具有测试功能的内建控制器对存储器进行测试。 

背景技术

闪存是目前最热门的储存媒介，并被广泛的利用在嵌入式系统上。闪存是一种固态、不容易挥发、可复写的存储器，其运作方式就像随机存取存储器与硬盘的混合体。就像DRAM，闪存将数据位储存在存储器单位中，但是当电源关闭后数据仍保留在存储器上，由于它的高速、持久性以及低电压需求，闪存非常适合在许多设备中使用，例如数码相机、移动电话、打印机、掌上型电脑、呼叫器以及录音机。 

参阅图1为现有技术的存储器测试系统的示意图。如图1所示，存储器测试系统1包括测试电脑10以及筛选板(Sorting Board)20，其中测试电脑10通过传输接口连接到筛选板20，而传输接口可为通用串行总线(Universal SerialBus，USB)接口。筛选板20包括控制器30以及存储器40，通常控制器30为控制芯片或具有控制芯片的控制模块。测试电脑10发出测试指令以及测试数据，由控制器30接收并写入存储器40，或由控制器30读取存储器40并传送回测试电脑10，测试电脑10进行数据比对以确认存储器是否正常，并记录测试结果，包括受损区块的地址以及受损区块的总数目。 

参阅图2，为现有技术的存储器测试的流程图。如图2所示，存储器的测试由步骤S10开始，接着进入步骤S12。在步骤S12中，测试电脑发出测试指令，进入步骤S14。在步骤S14中，测试电脑产生测试数据并传送至控制器，进入步骤S16。在步骤S16中，控制器将测试数据写入存储器内，进入步骤S18。在步骤S18中，测试电脑发出读取指令，进入步骤S20。在步骤S20中，控制器读取存储器内的储存数据并传送给测试电脑，进入步骤S22。在步骤 S22中，测试电脑比对测试数据与所接收到的储存数据，进入步骤S24。在步骤S24中，测试电脑记录比对结果，进入步骤S26。在步骤S26中，如果完成所有存储器的测试，则进入步骤S30，结束操作，否则回到步骤14。 

上述的测试操作在依测试数据的分类中属于低阶比对方式，非常依靠测试电脑的扫描测试程序以及测试电脑的效率，因为在数据的写入及读取时，测试系统对存储器的存取操作相当频繁，加上测试数据的产生及读取存储器数据后进行数据比对，都需要测试电脑的大量运算处理。因此，业界无不想尽办法在如何兼顾筛选的正确性及扫描的效率上取得令人满意的平衡点。 

然而，以低阶比对方式进行存储器扫描测试的缺点是，测试电脑的中央处理器会经常处于高度负载的状态，以及对存储器的频繁存取。 

另一类测试方式是高阶比对方式，通过测试电脑将测试文件通过控制器写入存储器内，再从存储器读取所储存的文件并与测试文件进行比对。此种方式为以系统逻辑观点的方式通过特定文件的存取来进行存储器的读写测试，将文件的数据分次并大量写入存储器再读出进行比对，因此可测试出存储器是否正常，且相对于低阶比对方式来说，对存储器的存取频率已大幅降低。 

然而，高阶比对的测试方式完全依靠测试电脑来进行，因此虽然有利于研发出高效率的测试程序以进行筛选测试，并容易了解比对结果，但却无法做到低阶比对方式确切掌握存储器区块状况的功能。 

尤其是近年来，存储器晶圆的体积日渐缩小，内部电路设计却日益复杂且要求运作快速，因此存储器颗粒的稳定度成为半导体产业一大挑战。若是无法预先了解存储器的特性，往往导致颗粒质量及可信度的下降。如何以节省时间、降低花费的方式，在一定的准确度下将存储器颗粒的稳定度筛选出来变成了一个重要的要素。尤其闪存的大容量、高密度和单位结构的复杂，更造成筛选上的不确定性大幅增加。加上制程技术追求极微小的体积，即使在同一晶圆上的各个单体，不同位置上皆可能出现不同的电气特性。若是以一视同仁的方式处理，又势必使得合格率大幅下降。 

因此，需要一种存储器的测试方法，能更快、更准确，以及更有效的进行存储器的筛选测试，以符合存储器测试的需求。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种存储器的测试方法，能快速、准确，以及有效的进行存储器的筛选测试，以符合存储器测试的需求。 

为解决上述技术问题，本发明的实施例提供技术方案如下： 

一种存储器的测试方法，用以测试一存储器的数据写入与数据读取的功能，该存储器的测试方法包括以下步骤： 

步骤A：一测试电脑准备一程序代码，该程序代码包含产生一测试数据的一算法、一数据比对操作以及一测试结果的记录操作，接着进入步骤B；