[发明专利]对利用电磁耦合器的高速总线模拟验证的方法及设备有效
申请号: | 200810176908.2 | 申请日: | 2008-09-26 |
公开(公告)号: | CN101424720A | 公开(公告)日: | 2009-05-06 |
发明(设计)人: | T·欣克;L·塔特;J·本哈姆;J·克里特克洛 | 申请(专利权)人: | 英特尔公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G06F11/22 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 柯广华;王丹昕 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 利用 电磁 耦合器 高速 总线 模拟 验证 方法 设备 | ||
1.一种设备,包括:
电子元件,接收来自与测试链路耦合的直连电磁耦合器探测器交流电 的采样电磁信号,放大所述采样电磁信号并且将经放大的采样电磁信号恢 复为出现在所述测试链路上的电磁信号,以及通过单位传递函数提供所述 恢复的电磁信号给示波器。
2.根据权利要求1所述的设备,其中所述电子元件包括自动增益控制 器,所述自动增益控制器通过单位传递函数提供所述恢复的电磁信号给所 述示波器。
3.根据权利要求1所述的设备,其中所述电子元件包括传输所述恢复 的电磁信号的足够带宽。
4.根据权利要求1所述的设备,其中所述电子元件包括带有测试模式 的现场校准,通过所述现场校准将所述传递函数训练并调整到已知模式。
5.根据权利要求1所述的设备,其中所述电子元件包括前置补偿器, 所述前置补偿器对所述恢复的电磁信号进行前置补偿并通过高性能同轴电 缆将所述恢复的电磁信号传送给所述示波器。
6.根据权利要求1所述的设备,其中所述电子元件包括存储器模块。
7.根据权利要求1所述的设备,其中所述电子元件包括所述示波器的 数字信号处理能力的配置。
8.根据权利要求7所述的设备,其中所述电子元件包括所述示波器外 部的离散元件及所述示波器的数字信号处理能力的配置的组合。
9.一种设备,包括:
用于对测试链路LUT上的电磁信号进行采样的部件;
用于放大并恢复采样电磁信号的部件;
用于通过单位传递函数传送所述恢复的电磁信号到示波器的部件。
10.根据权利要求9所述的设备,还包括用于通过已知模式对用于放 大、恢复及传送的部件校准的部件。
11.根据权利要求9所述的设备,还包括验证所述LUT上的电磁信号 的部件。
12.根据权利要求9所述的设备,其中用于恢复的所述部件包括用于对 采样电磁信号积分的部件。
13.根据权利要求9所述的设备,其中用于传送的所述部件包括用于自 动控制信号增益的部件。
14.根据权利要求9所述的设备,其中用于传送的所述部件包括用于前 置补偿所述恢复的电磁信号的部件。
15.一种系统,包括:
直连电磁耦合器探测器交流电,耦合成接收并采样基于链路上数据的 电磁信号;
电子元件,从所述直连电磁耦合器探测器交流电接收采样电磁信号并 且放大采样电磁信号和将经放大的采样电磁信号恢复为基于链路上数据的 电磁信号,所述电子元件包括自动增益控制器以通过单位传递函数提供所 述恢复的电磁信号给分析器件;以及
所述分析器件,接收所述恢复的电磁信号以使与所述恢复的电磁信号 对应的数据信号能够被验证。
16.根据权利要求15所述的系统,其中所述电子元件还包括带有测试 模式的现场校准,通过所述现场校准所述传递函数得到训练并调整到已知 模式。
17.根据权利要求15所述的系统,其中所述电子元件还包括对所述恢 复的电磁信号前置补偿的前置补偿器。
18.根据权利要求15所述的系统,其中所述电子元件包括所述分析器 件的数字信号处理能力的配置。
19.根据权利要求15所述的系统,其中所述电子元件包括所述分析器 件外部的离散元件与所述分析器件数字信号处理能力配置的组合。
20.根据权利要求15所述的系统,其中所述分析器件包括消除所述电 子元件所引起抖动的滤波器。
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