[发明专利]决定存储器模块控制信号的品质参数的方法及其电子装置

权利要求书

1.一种决定存储器模块的控制信号的品质参数的方法，适用于电子装置，其中上述电子装置至少包括中央处理单元以及包括多个品质参数并工作于第一频率的存储器模块，其特征是，上述方法包括下列步骤：

执行中央处理单元超频程序，以得到可正常工作的最高中央处理单元频率，其中上述中央处理单元超频程序用以调整上述中央处理单元的频率；

将上述中央处理单元的频率调整至上述最高中央处理单元频率，致使上述存储器模块工作于第二频率，其中上述第二频率高于上述第一频率；

调整至少一个上述品质参数，并针对品质参数调整后的系统执行存储器测试，以得到上述品质参数的上限值与下限值；以及

利用上述品质参数的上述上限值与上述下限值，决定出上述品质参数的最佳值。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征是，上述执行上述中央处理单元超频程序以得到上述可正常工作的最高中央处理单元频率的步骤包括：

将中央处理单元频率递增一频率，并执行初始存储器测试；以及

判断上述初始存储器测试结果是否为正确：

若上述初始存储器测试结果为正确，则再递增上述频率，并执行复加存储器测试及判断上述复加存储器测试结果是否为正确；若上述复加存储器测试结果为正确，则再递增上述频率并执行一复加存储器测试及判断上述复加存储器测试结果是否为正确；而若上述复加存储器测试结果 为不正确，则回复上一次测试结果为正确的频率，并以上述频率为最高中央处理单元频率；

而若上述初始存储器测试的结果为不正确时，将上述中央处理单元频率设为上述最高中央处理单元频率。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征是，其中上述品质参数具有预设值，并且上述得到上述品质参数的上述下限值的步骤包括：

将上述预设值递减既定值，并执行初始存储器测试；以及

判断上述初始存储器测试结果是否为正确；

若上述初始存储器测试结果为正确，则再递减上述预设值，并执行复加存储器测试及判断上述复加存储器测试结果是否为正确；若上述复加存储器测试结果为正确，则再递减上述预设值并执行一复加存储器测试及判断上述复加存储器测试结果是否为正确；而若上述复加存储器测试结果为不正确，则回复上一次测试结果为正确的预设值，并以上述预设值为上述下限值；

若上述初始存储器测试的结果为不正确时，将上述预设值设为上述下限值。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征是，其中得到上述品质参数的上述上限值的步骤包括：

将上述预设值递增一既定值，并执行一初始存储器测试；以及

判断上述初始存储器测试结果是否正确；

若上述初始存储器测试结果为正确，则再递增上述预设值，并执行复加存储器测试及判断上述复加存储器测试结果是否正确；若上述复加存储器测试结果为正确，则再递增上述预设值并执行一复加存储器测试及判断上述复加存储器测试结果是否正确；而若上述复加存储器测试结果 为不正确，则回复上一次测试结果为正确的预设值，并以上述预设值为上述上限值；

若上述初始存储器测试的结果为不正确时，将上述预设值设为上述上限值。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征是，其中上述利用上述品质参数的上述上限值与上述下限值决定出上述品质参数的上述最佳值的步骤为：

将上述上限值与上述下限值进行平均，以得到平均值作为上述最佳值。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征是，其中上述品质参数至少包括地址/指令信号延迟、CS/ODT信号延迟、DQS信号延迟以及CKE信号延迟。

7.根据权利要求2、3或4所述的方法，其特征是，其中上述执行上述存储器测试的步骤，还包括：

依据上述存储器模块的类型，得到对应的存储器测试样本；以及

利用得到的上述存储器测试样本，执行上述初始存储器测试或上述复加存储器测试。

8.根据权利要求1所述的方法，其特征是，还包括：

提供对应上述存储器模块的多个存储器测试样本；以及

由上述这些存储器测试样本中选择第一存储器测试样本以执行上述存储器测试。