[发明专利]决定存储器模块控制信号的品质参数的方法及其电子装置有效

专利信息
申请号: 200810178377.0 申请日: 2008-11-27
公开(公告)号: CN101739062A 公开(公告)日: 2010-06-16
发明(设计)人: 简志升 申请(专利权)人: 华硕电脑股份有限公司
主分类号: G06F1/08 分类号: G06F1/08;G06F11/00
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 郭蔚
地址: 中国台湾台北*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 决定 存储器 模块 控制 信号 品质 参数 方法 及其 电子 装置
【说明书】:

技术领域

发明有关于一种电脑设定的方法及其电子装置。

背景技术

随着电脑技术的提升,使用者除了一般正常的使用需求外,有时也想要对 于系统的中央处理单元(CPU)或存储器模块进行更进一步的微调。通过使中央 处理单元(CPU)或存储器模块工作于比原来更高的频率下的超频技术,可以进 一步提升系统的执行效能。为了达到此目的,在高阶的主板上,在储存有包含 电脑里所有信息的基本输入输出系统(basic input/output system,BIOS)中 会提供存储器模块的控制信号的相关选项如地址/指令(Address/Command,简 称AddrCmd)、芯片选择(chip select,简称CS)/存储器芯片内部的存储器信号 终端电阻(on-die termination,简称ODT)、数据选通脉冲信号(Data strobe, 简称DQS)以及时脉致能(clock enable,简称CKE)控制信号的微调(Fine Delay),让超频玩家或硬件工程师可以手动做一些微调以增加存储器的超频 性。

然而,在现有的架构下,这些设定必须于重开机后才会执行,而且必须在 操作系统下用测试程序才能知道微调的结果是否可正常运作。举例来说,使用 者必须反复调整BIOS中的存储器信号相关的选项后,重开机到磁盘操作系统 (DOS)下直接量测相关信号的输出或执行相关测试程序来检查系统的稳定性, 以确定是否有足够的信号边限(margin)来做为超频的空间。如果微调后的结果 反而会降低系统的稳定度或使得中央处理单元(CPU)或存储器模块无法操作于 所设定的参数时,不仅无法提升系统的效能,还有可能导致系统数据遗失或受 损。

因此,需要一种可以简单得到存储器相关控制信号的相关信号边限的方 法,以方便使用者进行超频。

发明内容

有鉴于此,本发明的目的之一即在于提供一种决定存储器模块的控制信号 的参数的方法以及其电子装置,可以简单得到存储器相关控制信号的信号边 限,以方便使用者安全地进行超频。

基于上述目的,本发明提供一种决定存储器模块的控制信号的品质参数的 方法,适用于一电子装置,其中电子装置至少包括一中央处理单元以及一存储 器模块且存储器模块包括多个品质参数并工作于一第一频率。方法包括下列步 骤。执行一中央处理单元超频程序,以得到一可正常工作的最高中央处理单元 频率,其中中央处理单元超频程序用以调整该中央处理单元的频率。接着,将 中央处理单元的频率调整至最高中央处理单元频率,致使存储器模块工作于一 第二频率,其中第二频率高于该第一频率。之后,调整一品质参数,并针对品 质参数调整后的系统执行一存储器测试,以得到品质参数的一上限值与一下限 值。最后,利用品质参数的上限值与下限值,决定出品质参数的一最佳值。

本发明另提供一种电子装置,用以决定存储器模块的控制信号的品质参 数,其包括一中央处理单元、一存储器模块、一超频单元、一调整单元以及一 决定单元。存储器模块具有一品质参数且工作于一第一频率。超频单元执行一 中央处理单元超频程序,以得到一可正常工作的最高中央处理单元频率,将中 央处理单元的频率调整至最高中央处理单元频率,致使存储器模块工作于一第 二频率,其中第二频率高于第一频率且中央处理单元超频程序用以调整中央处 理单元的频率。调整单元调整一品质参数,并针对品质参数调整后的系统执行 一存储器测试,以得到品质参数的一上限值与一下限值。决定单元利用品质参 数的上限值与下限值,决定出品质参数的一最佳值。

本发明另提供一种决定存储器模块的控制信号的品质参数的方法,适用于 一电子装置,其中电子装置至少包括一中央处理单元以及一存储器模块且该存 储器模块包括多个品质参数。方法包括下列步骤。首先,调整一品质参数,并 针对品质参数调整后的系统执行一存储器测试,以得到品质参数的一上限值与 一下限值。接着,利用品质参数的上限值与下限值,决定出品质参数的一最佳 值。其中,品质参数至少包括一地址/指令信号延迟微调(fine delay)、一CS/ODT 信号延迟微调、DQS信号延迟微调以及CKE信号延迟微调。

为使本发明的上述和其它目的、特征、和优点能更明显易懂,下文特举出 较佳实施例,并配合所附图式,作详细说明如下。

附图说明

图1所示为一依据本发明实施例的电子装置的区块示意图。

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