[发明专利]半导体器件有效
申请号: | 200810183252.7 | 申请日: | 2008-12-12 |
公开(公告)号: | CN101459156A | 公开(公告)日: | 2009-06-17 |
发明(设计)人: | 佐藤仁志 | 申请(专利权)人: | 新光电气工业株式会社 |
主分类号: | H01L23/498 | 分类号: | H01L23/498;H01L23/544 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 | 代理人: | 顾红霞;彭 会 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体器件 | ||
1.一种半导体器件,包括:
第一配线基板,具有:
多个堆叠的绝缘层,
内部连接焊盘,其布置在所述多个堆叠的绝缘层的上表面 一侧,
半导体元件安装焊盘,其布置在所述多个堆叠的绝缘层的 上表面一侧,
测试焊盘,其布置在所述多个堆叠的绝缘层的下表面一侧; 以及
外部连接焊盘,其布置在所述多个堆叠的绝缘层的下表面 一侧,并且在所述外部连接焊盘上面布置有外部连接端子,
第一配线图案,其布置在所述多个堆叠的绝缘层内,并且 使所述内部连接焊盘与所述测试焊盘电连接,以及
第二配线图案,其使所述半导体元件安装焊盘与所述外部 连接焊盘电连接;
第二配线基板,其位于所述第一配线基板上方,通过内部连接 端子安装在所述内部连接焊盘上并且与所述第一配线基板电连接;以 及
半导体元件,其安装在所述半导体元件安装焊盘上,
其中,所述外部连接焊盘位于所述测试焊盘的内侧。
2.根据权利要求1所述的半导体器件,
其中,所述外部连接焊盘位于与所述第一配线基板的中间部分 相对应的部分中。
3.根据权利要求1或2所述的半导体器件,
其中,所述测试焊盘设置成与所述内部连接焊盘相对,并且所 述半导体元件安装焊盘设置成与所述外部连接焊盘相对。
4.根据权利要求1或2所述的半导体器件,还包括:
密封树脂,其布置在所述第一配线基板与所述第二配线基板之 间,并且密封所述半导体元件和所述内部连接焊盘。
5.根据权利要求1或2所述的半导体器件,
其中,所述内部连接端子为导电球,所述导电球包括:核心部 分,其用于使所述第一配线基板与所述第二配线基板之间的间隙保持 在预定值;以及覆盖部分,其覆盖所述核心部分。
6.根据权利要求1或2所述的半导体器件,
其中,所述第一配线基板具有布置在所述多个堆叠的绝缘层之 间的芯基板。
7.根据权利要求1或2所述的半导体器件,
其中,所述第一配线基板具有电子部件安装焊盘,所述电子部 件安装焊盘布置在所述多个堆叠的绝缘层的上表面一侧,所述电子部 件安装焊盘位于所述半导体元件安装焊盘附近,并且与所述半导体元 件安装焊盘电连接,并且
所述半导体器件还包括电子部件,所述电子部件安装在所述电 子部件安装焊盘上。
8.根据权利要求7所述的半导体器件,还包括:
另一个电子部件,其布置在所述第二配线基板的与面对所述第 一配线基板的一侧相反的一侧的表面上。
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