[发明专利]用于评估反相器的单位延迟时间的建模方法及其装置

权利要求书

1.一种用于评估反相器的单位延迟时间的方法，包括：

导出用于多个反相器的模型，所述模型包括作为变量的晶体管的沟道长度、沟道宽度和栅电极电阻；

通过将变化量输入到所述变量中来测量延迟时间；以及

通过将所述延迟时间除以反相器的个数来确定一个反相器的单位延迟时间。

2.根据权利要求1所述的方法，其中所述栅电极电阻通过以下方程来表示：

Rpoly=RpolyO×LeffWeff×12a]]>

其中Rpoly代表所述栅电极电阻，Rpoly0代表所述栅电极的表面电阻，Leff代表有效沟道宽度，Weff代表有效沟道长度，而a代表校正系数。

3.根据权利要求2所述的方法，其中所述校正系数a是通过对具有各种沟道宽度的多个环形振荡器进行多次实验而获得的值。

4.一种用于评估反相器的单位延迟时间的装置，包括：

计算机可读介质，存储用于评估所述反相器的单位延迟时间的命令，

其中所述命令设置用于多个反相器的模型和变量，

其中所述变量包括晶体管的沟道长度、沟道宽度和栅电极电阻，并且所述命令包括在变化量输入到所述变量中时确定串联连接的反相器的链或环的延迟时间，以及通过将所述延迟时间除以所述链或环中的反相器的个数来确定所述反相器的单位延迟时间。

5.根据权利要求4所述的装置，其中所述栅电极电阻通过以下方程来表示：

Rpoly=RpolyO×LeffWeff×12a]]>

其中Rpoly代表所述栅电极电阻，Rpoly0代表所述栅电极的表面电阻，Leff代表有效沟道宽度，Weff代表有效沟道长度，而a代表校正系数。

6.根据权利要求5所述的装置，其中所述校正系数a是通过对具有各种沟道宽度的多个环形振荡器进行多次实验而获得的值。