[发明专利]一种绿光发光二极管有效
申请号: | 200810200457.1 | 申请日: | 2008-09-25 |
公开(公告)号: | CN101359711A | 公开(公告)日: | 2009-02-04 |
发明(设计)人: | 潘尧波;郝茂盛;颜建锋;周健华;张国义 | 申请(专利权)人: | 上海蓝光科技有限公司;彩虹集团公司;北京大学 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00 |
代理公司: | 上海光华专利事务所 | 代理人: | 余明伟 |
地址: | 201203上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 发光二极管 | ||
技术领域
本发明涉及光电半导体领域,尤其涉及一种绿光发光二极管。
背景技术
GaN基III-V族氮化物是重要的直接带隙的宽禁带半导体材料。GaN基材料具有优异的机械和化学性能,优异的光电性质,室温下其带隙范围从0.7eV(InN)到6.2eV(AlN),发光波长涵盖了远红外,红外,可见光,紫外光,深紫外,GaN基材料在蓝光,绿光,紫光及白光二极管等光电子器件领域有广泛的应用背景。
近几年GaN基蓝光LED的外量子效率获得重大提高,达到45%左右(参见:Appl.Phys.Lett.,89,071109等),但是绿光发光二极管的外量子效率相对于GaN基蓝光LED低得多(参见:Appl.Phys.Lett.,86,101903等)。绿光发光二极管需要高质量高In组分的InxGa1-xN/GaN量子阱(x≥15%),然而由于高In组分的InGaN材料容易发生In的相分离,并且InxGa1-xN/GaN多量子阱的界面容易产生大量的V型缺陷,是绿光LED外量子效率低,抗静电能力差的主要原因。
为了克服现有技术中的上述问题,本发明的发明人在发光二极管领域进行了广泛深入的研究,终有本发明的产生。
发明内容
本发明针对现有技术中存在的上述技术问题提出了通过在外延生长InGaN/GaN量子阱中引入一层插入层来构成一种绿光发光二极管,此类二极管能减少InGaN和GaN间的V型缺陷,并减少In组分的析出,是一种高亮度、抗静电能力强的绿光发光二极管。
一种绿光发光二极管,包括含一插入层的InxGa1-xN/GaN多量子阱,其中0.15≤x≤0.35。
作为本发明的一种优选方案,所述插入层是InyGa1-yN,其中x<y≤1。
作为本发明的另一种优选方案,所述插入层是AlyGa1-yN,其中0<y≤1。
作为本发明的再一种优选方案,所述插入层是IncAl1-cN,其中x<c≤1。
作为本发明的再一种优选方案,所述插入层是AlaInbGa1-a-bN,其中0<a<1,0<b<1并且a,b的取值需满足AlaInbGa1-a-bN的势垒高于GaN的势垒。
作为本发明的再一种优选方案,所述插入层的厚度是0.1~5nm。
作为本发明的再一种优选方案,所述InxGa1-xN/GaN多量子阱的量子阱数目为1~20。
本发明通过在外延生长InGaN/GaN量子阱中引入一层插入层来构成一种绿光发光二极管,此类二极管能减少InGaN和GaN间的V型缺陷,并减少In组分的析出,是一种高亮度、抗静电能力强的绿光发光二极管,引入插入层后,300微米×300微米的520nm的绿光LED芯片的20mA下的亮度由100mcd升高至250mcd,芯片的抗静电能力由人体模式500V提高至人体模式4000V。
以下结合附图及实施例进一步说明本发明。
附图说明
图1是本发明的结构示意图;
其中,1、蓝宝石衬底,2、GaN成核层,3、非掺杂GaN层,4、n型GaN层,5、InGaN/GaN多量子阱有源层,其中5a为InGaN阱层,5b为插入层,5c为GaN垒层,量子阱数目为1~20,6、p型AlGaN载流子阻挡层,7、p型GaN层。
图2是本发明与普通绿光发光二极管的光功率与电流曲线的对比示意图。
其中,曲线1是本发明含插入层的多量子结构的发光二极管的光功率与电流曲线;曲线2是无插入层的多量子阱结构的发光二极管的光功率与电流曲线。
具体实施方式
一种绿光发光二极管,包括含一插入层的InxGa1-xN/GaN多量子阱,其中0.15≤x≤0.35。
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