[发明专利]光纤测温系统的现场标定装置及方法

权利要求书

1.光纤测温系统的现场标定装置，用于对处于强电磁场环境的光纤测温系统的探测光纤进行现场温度值标定的，其特征在于：

该装置包括密闭容器，其内部装设有测温装置及待标定的探测光纤；

半导体制冷器，其与所述密闭容器相连，

控制电路，用于控制半导体制冷器，使其加热或制冷密闭容器内的空气；

所述测温装置将探测到的密闭容器内的温度反馈给控制装置；

显示装置，其与控制电路相连，用于显示控制电路的温度。

2.如权利要求1所述的光纤测温系统的现场标定装置，其特征在于：该装置进一步包括与控制电路相连的打印装置，用于实时打印。

3.如权利要求1或2所述的光纤测温系统的现场标定装置。其特征在于：所述半导体制冷器通过螺钉与密闭容器固定。

4.如权利要求1或2所述的光纤测温系统的现场标定装置，其特征在于：所述探测光纤标定段长度为8至10米。

5.如权利要求1所述的光纤测温系统的现场标定装置的使用方法，其特征在于：该方法包括以下步骤：

步骤一，将待标定的一段探测光纤置于密闭容器1内；

步骤二，控制电路设定一个标准的温度值，比较测温装置探测到的密闭器1内的温度；

步骤三，控制电路控制半导体致冷器的工作状态，使密闭容器1内的温度达到并恒定在设定的标准温度值，从而使待标定的探测光纤段处于已知的温度环境中，并将测得的该段探测光纤的温度值调整至该温度值即完成标定。

6.如权利要求5所述的光纤测温系统的现场标定装置的使用方法，其特征在于：该方法进一步包括通过附加高精度玻璃温度计实现装置精度的自校验步骤：

a.将高精度玻璃温度计置入本标定装置的密闭容器1内；

b.打开本标定装置的电源，经过30分钟的恒定时间，检查本标定装置显示的温度是否与置入标定装置密闭容器1内的玻璃温度计读数一致；

c.如不一致，通过本装置的程序设定，将本标定装置的显示读数与玻璃温度计的读数一致，完成标定。