[发明专利]光纤测温系统的现场标定装置及方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种光纤测温系统的现场标定方法和装置，特别涉及一种专门用于对处于强电磁场环境的光纤测温系统探测光纤段进行现场温度值标定的方法和装置。

背景技术

随着社会的飞速发展，特别是城市化进程的加快，城市基础建设滞后城市发展，特别是冬、夏季的用电高峰，电力系统超负荷运转，输配电系统的安全，特别密集电缆的运行安全需要引起特别的关注，电缆安全运行的一个主要表征就是其运行温度。传统热电耦、铂电阻等点式温度探测装置由金属材料构成，直接用于电力系统测温会带来本征的不安全性，而且随着探测点数的急剧增加，这类手段越来越不具备经济性。

而现有的光纤测温系统本身不带电，而且又是良好绝缘的玻璃构成，本征上安全。但由于被测电器设备的调整，附着于其上的探测光纤也跟随着调整，从而引起探测光纤的截断、接续等，需要对整个测温系统重新标定。

因此，研究强电磁场环境下的光纤测温系统的现场标定的方法和装置具有重要的使用意义和经济价值。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供光纤测温系统的现场标定的装置及方法，该装置重量轻、可交直流两种供电方式，具有很好的抗电磁干扰能力，能够提供2个以上高精度的恒定温度点，该方法操作简单。

为解决上述技术问题，本发明光纤测温系统的现场标定的装置及方法采用如下技术方案：光纤测温系统的现场标定装置，用于对处于强电磁场环境的光纤测温系统的探测光纤进行现场温度值标定的，该装置包括密闭容器，其内部装设有测温装置及待标定的探测光纤；

半导体制冷器，其与所述密闭容器相连，

控制电路，用于控制半导体制冷器，使其加热或制冷密闭容器内的空气；

所述测温装置将探测到的密闭容器内的温度反馈给控制装置；

显示装置，其与控制电路相连，用于显示控制电路的温度。

作为本发明优选方案之一，该装置进一步包括与控制电路相连的打印装置，用于实时打印。

作为本发明优选方案之一，所述半导体制冷器通过螺钉与密闭容器固定。

作为本发明优选方案之一，所述探测光纤标定段长度为8-10米。

本发明进一步包括光纤测温系统的现场标定装置的使用方法，该方法包括以下步骤：步骤一，将待标定的一段探测光纤置于密闭容器1内；

步骤二，控制电路设定一个标准的温度值，比较测温装置探测到的密闭器1内的温度；步骤三，控制电路控制半导体致冷器的工作状态，使密闭容器1内的温度达到并恒定在

设定的标准温度值，从而使待标定的探测光纤段处于已知的温度环境中，并将测得的

该段探测光纤的温度值调整至该温度值即完成标定。

作为本发明的优选方案之一，该方法进一步包括通过附加高精度玻璃温度计实现装置精度的自校验步骤：

a.将高精度玻璃温度计置入本标定装置的密闭容器1内；

b.打开本标定装置的电源，经过30分钟的恒定时间，检查本标定装置显示的温度是否与置入标定装置密闭容器1内的玻璃温度计读数一致；

c.如不一致，通过本装置的程序设定，将本标定装置的显示读数与玻璃温度计的读数一致，完成标定。

本发明能够在变电站强电磁环境中，通过调整控制电路，控制半导体致冷器的工作状态，可在密闭容器内产生多个高精度温度恒定值，该温度值同时通过显示装置显示，也可通过打印装置打印。

附图说明

图1是本发明光纤测温系统的现场标定装置结构示意图；

图2是本发明光纤测温系统的现场标定装置连接关系示意图；

图3是本发明控制电路温度设置面板示意图；

图4是本发明显示装置示意图。

附图标记如下：

1、密闭容器                              2、探测光纤

3、半导体致冷器                          4、测温装置

5、控制电路                              6、显示装置

7、打印装置

具体实施方式

本发明光纤测温系统的现场标定装置包括如下结构，下文中参照附图将对此进行详细描述。

如图1至图2所示，本发明包括密闭容器1，密闭容器1内放置待标定探测光纤2，半导体致冷器3受控制电路5控制，测温装置4探测密闭容器1内的实际温度，并送至控制电路5，通过显示装置6显示，也可通过打印装置7实时打印。

密闭容器1可以放置8至10米的待标定的探测光纤2，其内部温度由控制电路5的设置决定。