[发明专利]一种薄型非接触模块封装的焊接方法无效
申请号: | 200810202796.3 | 申请日: | 2008-11-17 |
公开(公告)号: | CN101419926A | 公开(公告)日: | 2009-04-29 |
发明(设计)人: | 陆美华;叶佩华 | 申请(专利权)人: | 上海伊诺尔信息技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/603 | 分类号: | H01L21/603;G06K19/077 |
代理公司: | 上海申汇专利代理有限公司 | 代理人: | 翁若莹 |
地址: | 200237上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 薄型非 接触 模块 封装 焊接 方法 | ||
1.一种薄型非接触模块封装的焊接方法,其特征在于,使用倒焊弧方法,其方法为:
第一步,先在IC芯片(2)的压焊区上形成一个金球(6);
第二步,然后再在引线框架(3)形成第一焊点(7);
第二步,将第二焊点的锲焊点焊在芯片(2)已焊的金球(6)上,实现倒焊弧;
材料:1mil AW66金丝
焊接参数:
球焊点焊接压力 400-800mN
球焊点焊接时间 5-15ms
球焊点焊接功率 15%-40%
楔焊点焊接压力 300-700mN
楔焊点焊接时间 4-15ms
楔焊点焊接功率 10%-40%
加热块温度 180±5℃。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
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