[发明专利]显示器及测量该显示器对位组立偏移的方法

权利要求书

1.一种显示器，其特征在于，该显示器包括：

一第一基板；

一对位结构，配置在所述第一基板上，所述对位结构具有一顶部；

一第一导电层，配置在所述顶部的以及整个所述对位结构的表面上；

一第二基板，对应于所述第一基板设置；

一绝缘层，配置在所述第二基板上；以及

一第二导电层，配置在所述绝缘层上，所述第二导电层具有一封闭的对位区域，所述顶部的第一导电层与所述封闭的对位区域暴露出的所述绝缘层相对应，并且所述对位结构的顶部宽度小于所述对位区域的对位宽度。

2.如权利要求1所述的显示器，其特征在于，所述对位结构包括一黑色矩阵层、一红色光阻层、一绿色光阻层或一蓝色光阻层。

3.如权利要求1所述的显示器，其特征在于，所述第一基板与所述第二基板的所述绝缘层间具有一间距d，所述对位结构的高度为h，所述第一导电层的厚度为t1，所述第二导电层的厚度为t2，且d-t2≤h+t1≤d。

4.如权利要求1所述的显示器，其特征在于，所述对位区域的对位宽度的范围介于10与100微米之间。

5.如权利要求1所述的显示器，其特征在于，所述顶部与所述对位区域完全重叠。

6.如权利要求1所述的显示器，其特征在于，所述第一导电层与所述第二导电层接触。

7.如权利要求1所述的显示器，其特征在于，所述显示器还包括一框胶，配置在所述第一基板与所述第二基板之间。

8.如权利要求7所述的显示器，其特征在于，所述显示器另包括一彩色滤光片，配置在所述第一基板上，且所述框胶位于所述彩色滤光片与所述对位结构之间。

9.如权利要求7所述的显示器，其特征在于，所述显示器另包括一薄膜晶体管阵列，配置在所述第二基板上，且所述框胶位于所述薄膜晶体管阵列与所述对位区域之间。

10.一种测量如权利要求1至9任一项所述的显示器的对位组立偏移的方法，其特征在于，该方法包括：

输入一对位信号至所述第一导电层；以及

测量所述第二导电层是否具有所述对位信号，当所述第二导电层具有所述对位信号时，则判断所述第一基板与所述第二基板的对位组立偏移量大于或等于一预定值；当所述第二导电层不具有所述对位信号时，则判断所述第一基板与所述第二基板的对位组立偏移量小于一预定值。