[发明专利]显示器及测量该显示器对位组立偏移的方法

说明书

技术领域

本发明是有关于一种显示器与一种测量该显示器对位组立偏移(Assemble Precision)的方法，且特别是有关于一种液晶显示器与一种测量该液晶显示器组装时的对位组立偏移的方法。

背景技术

近年来有许多平面显示器(Flat Panel Display)技术相继被开发出来。液晶显示器(LCD)因为具有高画质、体积小、重量轻、低电压驱动、低耗电量及应用范围广等优点，因此被广泛应用于中、小型可携式电视、行动电话、摄录放影机、笔记型电脑、桌上型显示器、以及投影电视等消费性电子或电脑产品，并已逐渐取代阴极射线管(Cathode Ray Tube；CRT)而成为显示器的主流。特别是薄膜晶体管(Thin Film Transistor；TFT)液晶显示器，因其高显示品质与低消耗功率的特性，几乎占据了大部分的市场。

薄膜晶体管液晶显示器主要由数个液晶显示器单元和薄膜晶体管阵列组成。每个液晶显示器单元具有两个彼此对置的玻璃基板，一层液晶层夹于两玻璃基板之间。通过薄膜晶体管切换施加于液晶层上的电压，进而改变显示器的亮度。

在液晶显示器的组装工艺中，将各个基板面对面地对齐组装的工艺称为对组工艺。图1所示为已知显示器100的平面示意图，如图1所示，在对组工艺中，将第一基板110和第二基板120面对面地对齐组装，使得第一基板110上的作用区域112(例如彩色滤光片)对齐于第二基板120上的器件区域(例如薄膜晶体管阵列)，以共同构成一个显示区域。为了确定两片基板是否对齐，在两片基板的边缘通常会分别设置有如同量尺的装置，两个量尺重叠而形成一个游标尺102。由检测人员读取游标尺102上的数值，即可得知两片基板是否对齐以及两片基板之间的偏移量，或称为对位组立偏移量。当对位组立偏移量过大时，会产生漏光的现象。

实务上，由于对位组立的判断不易，常常发生检测片人员误判，而未能及时挑出会漏光的片子，造成后续工艺的困扰，以及组装材料的浪费。

有鉴于此，我们需要一种新的显示器及测量该显示器对位组立偏移的方法，特别是一种新的液晶显示器及测量该液晶显示器对位组立偏移的方法，以有效测量对位组立偏移量，并避免人为误判。

发明内容

本发明提供一种显示器，可支持电子信号的测量方式，取代传统的人员目视游标尺的方法。显示器具有第一基板和第二基板，第二基板对应于第一基板设置，即两片基板面对面地并列设置。

第一基板上配置有一对位结构，对位结构具有一顶部。一第一导电层配置在顶部以及整个所述对位结构的的表面上。第二基板上配置有一绝缘层。一第二导电层配置在绝缘层上。第二导电层具有一封闭的对位区域，所述顶部的第一导电层与所述封闭的对位区域暴露出的所述绝缘层相对应，并且所述对位结构的顶部宽度小于所述对位区域的对位宽度。

当对位结构的顶部仅位于对位区域中时，第一导电层与第二导电层没有电接触时，第一导电层上的电子信号不会传到第二导电层上，反之第二导电层上的电子信号也不会传到第一导电层。然而，当对位结构的顶部超出对位区域外时，第一导电层与第二导电层则会产生电接触。

因此，检测人员可利用上述特性，通过测量第一导电层或第二导电层上的电子信号，便可得知第一导电层和第二导电层是否产生电接触，进而得知第一基板和第二基板的对位组立偏移的情况。

本发明另提供一种测量显示器的对位组立偏移方法，其主要包括两个步骤。首先，输入一对位信号至第一导电层上。接着，测量第二导电层是否具有对位信号。当测量的结果是第二导电层具有对位信号时，则判断第一基板与第二基板的对位组立偏移量大于或等于预定值。反之，当第二导电层不具有对位信号，则判断第一基板与第二基板的对位组立偏移量小于预定值。

本发明所提出的显示器与测量其对位组立偏移的方法，可以以检测精度较高且检测速度较快的电子信号测量来取代传统的目视测量，从而减低检测人员目视检测的负担，并有效减少误判。

附图说明

图1为已知的显示器的平面示意图。

图2A为本发明显示器的实施例的平面示意图。

图2B为图2A所示对位精度测量结构沿着A-A’剖线的剖面示意图。

图3A为图2A所示对位精度测量结构的局部放大示意图。

图3B为图3A所示对位精度测量结构沿着B-B’剖线的剖面示意图。

图4A为图3A所示对位精度测量结构的平面示意图，表示当两基板平移后的情况。

图4B为图4A所示对位精度测量结构沿着C-C’剖线的剖面示意图。