[发明专利]一种检测射频馈线损耗的方法和装置有效
申请号: | 200810222238.3 | 申请日: | 2008-09-12 |
公开(公告)号: | CN101674141A | 公开(公告)日: | 2010-03-17 |
发明(设计)人: | 王东;程广辉;王西昌;曹雪 | 申请(专利权)人: | 中国移动通信集团公司;普天信息技术研究院有限公司 |
主分类号: | H04B17/00 | 分类号: | H04B17/00;H04W24/00 |
代理公司: | 北京中誉威圣知识产权代理有限公司 | 代理人: | 王正茂;彭晓玲 |
地址: | 100032*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 检测 射频 馈线 损耗 方法 装置 | ||
1.一种检测射频馈线损耗的方法,其特征在于,包括下列步骤:
在射频拉远单元RRU中,将发射通道切换到检测通道,对所述发射 通道的输出功率进行检测;
在RRU中,将发射通道切换到校准通道,对所述发射通道进行校准;
根据所述检测结果和校准结果,计算所述RRU和天线间的射频馈线 损耗;
所述对发射通道输出功率进行检测具体包括:
将射频信号依次经过所述RRU的环行器、定向藕合器,从所述RRU 的射频端口输出;
从定向藕合器藕合出部分射频信号,经过射频开关进入RRU的接收 通道进行检测;
所述对发射通道进行校准具体包括:
将射频信号依次经过所述RRU的环行器、定向藕合器,从所述RRU 的射频端口输出射频信号经过射频馈线到天线内部的天线藕合盘;
由所述天线藕合盘藕合回部分射频功率从天线藕合口输出,经过射 频馈线和功率合分器后,再经过射频开关,进入接收通道进行校准。
2.根据权利要求1所述检测射频馈线损耗的方法,其特征在于, 所述计算RRU和天线间的射频馈线损耗,为:
D=(D4+D2-D1-D3)/2
其中:
D为所述RRU和天线间射频馈线损耗;
D1为所述天线藕合盘的无源损耗;
D2为在所述对发射通道输出功率进行检测的过程中,从所述定向藕 合器到所述射频开关的损耗;
D3为在所述对发射通道进行校准的过程中,从天线藕合口到所述射 频开关的损耗;
D4为所述发射通道输出功率检测和校准的两次过程检测信号功率 差。
3.根据权利要求1所述检测射频馈线损耗的方法,其特征在于,所 述对发射通道的输出功率进行检测还包括:
对所述发射通道的输出功率进行多次检测取平均值,得到最终的射 频馈线损耗值。
4.一种检测射频馈线损耗的装置,包括RRU和天线,其特征在于, 所述RRU包括射频开关和计算单元:
所述射频开关,用于控制检测通道和校准通道的切换,实现功率检 测和校准的功能;
所述计算单元,用于采集检测结果和校准结果,计算RRU和天线间 的射频馈线损耗;
其中,所述检测的方式包括:
将射频信号依次经过所述RRU的环行器、定向藕合器,从所述RRU 的射频端口输出;
从定向藕合器藕合出部分射频信号,经过射频开关进入RRU的接收 通道进行检测;
所述校准的方式包括:
将射频信号依次经过所述RRU的环行器、定向藕合器,从所述RRU 的射频端口输出射频信号经过射频馈线到天线内部的天线藕合盘;
由所述天线藕合盘藕合回部分射频功率从天线藕合口输出,经过射 频馈线和功率合分器后,再经过射频开关,进入接收通道进行校准。
5.根据权利要求4所述检测射频馈线损耗的装置,其特征在于,所 述检测通道包括依次连接形成一个环路的所述RRU的功放单元、环行器、 定向藕合器和射频开关,所述功放单元通过RRU的发射通道与RRU的计 算单元相连,射频开关通过RRU的接收通道与所述计算单元相连。
6.根据权利要求4所述检测射频馈线损耗的装置,其特征在于,所 述校准通道包括依次连接形成一个环路的所述RRU的功放单元、环行器、 定向藕合器、天线耦合盘、功率合分器和射频开关,所述功放单元通过 RRU的发射通道与RRU的计算单元相连,所述射频开关通过RRU的接收 通道与所述计算单元相连。
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