[发明专利]一种检测射频馈线损耗的方法和装置有效

专利信息
申请号: 200810222238.3 申请日: 2008-09-12
公开(公告)号: CN101674141A 公开(公告)日: 2010-03-17
发明(设计)人: 王东;程广辉;王西昌;曹雪 申请(专利权)人: 中国移动通信集团公司;普天信息技术研究院有限公司
主分类号: H04B17/00 分类号: H04B17/00;H04W24/00
代理公司: 北京中誉威圣知识产权代理有限公司 代理人: 王正茂;彭晓玲
地址: 100032*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 检测 射频 馈线 损耗 方法 装置
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种移动通信领域中检测射频馈线损耗的方法和装置, 特别涉及一种检测RRU和天线间射频馈线损耗的方法和装置。

背景技术

作为全球第三代移动通信主流标准之一的TD-SCDMA技术,2008年 开始在我国8个城市进行大规模试商用。对TD-SCDMA新型天馈系统来说, 测试RRU(Ridio Remote Unit,射频拉远单元)和天线间的线缆损耗, 对基站的覆盖范围和网络优化有很大的影响。需要用一些手段测试出该 损耗,并在系统中进行补偿,以保证在天线入口的下行功率保持一个固 定的功率电平。目前,通常使用两种方式对该损耗进行测量:

方式1:在工程现场,采用射频仪表对馈线进行测量,测出线缆损 耗,并进行记录,然后在开通基站时通过调试软件窗口将该值输入给基 站,基站获取该值后,通过特定的程序进行补偿。使用仪表进行测试, 虽然测试的精度比较高,但是由于是人工进行测试,只是对测试值进行 临时的记录,然后将临时记录转交给基站调试开通人员,中间经常出现 错记和丢失的情形,严重影响了基站开通的效率;一旦该数据丢失而线 缆已安装好,再要重新进行测试,需要将仪表搬到铁塔上面,非常不方 便。

方式2:在RRU侧用射频功率检波器进行输出功率的检测,在天线 侧射频馈线入口使用射频功率检波器进行输入功率检测。天线将检测到 的输入功率值通过特定的传输方式传送给RRU,RRU的控制处理器通过对 这两个值进行相减,从而计算出射频馈线的损耗。该测量方式在基站开 通的时候由基站自动完成,减少了由于人工参与而可能带来的差错,提 高了工作的可靠性;但需要使用两个检波器分别进行检测,每个检波器 的检测误差为+/-1dB,这样两个检波器所带来的检测误差则为+/-2dB, 降低了检测的准确度;同时该方式还需要天线配合RRU进行测试数据的 传输,需要增加协议和硬件成本,也增加了天线侧的故障点。

发明内容

本发明的目的是提供一种检测射频馈线损耗的方法和装置,以解决 现有技术中人工测试数据容易丢失、自动测试误差较高的问题。

为了实现以上目的,本发明公开了一种检测射频馈线损耗的方法, 包括下列步骤:在射频拉远单元RRU中,将发射通道切换到检测通道, 对发射通道的输出功率进行检测;在射频拉远单元RRU中,将发射通道 切换到校准通道,对发射通道进行校准;根据检测结果和校准结果,计 算RRU和天线间的射频馈线损耗。

上述技术方案中,对发射通道输出功率进行检测具体包括:将射频 信号依次经过RRU的环行器、定向藕合器,从RRU的射频端口输出;从 定向藕合器藕合出部分射频信号,经过射频开关进入RRU的接收通道进 行检测。

上述技术方案中,对发射通道进行校准具体包括:将射频信号依次 经过RRU的环行器、定向藕合器,从RRU的射频端口输出射频信号经过 射频馈线到天线内部的天线藕合盘;由天线藕合盘藕合回部分射频功率 从天线藕合口输出,经过射频馈线和功率合分器后,再经过射频开关, 进入接收通道进行校准。

上述技术方案中,计算RRU和天线间的射频馈线损耗,为:D= (D4+D2-D1-D3)/2其中:D为RRU和天线间射频馈线损耗;D1为天线 藕合盘的无源损耗;D2为在对发射通道输出功率进行检测的过程中,从 定向藕合器到射频开关的损耗;D3为在对发射通道进行校准的过程中, 从天线藕合口到射频开关的损耗;D4为发射通道输出功率检测和校准的 两次过程计算单元检测信号功率差。

上述技术方案中,对发射通道的输出功率进行检测还包括:对发射 通道的输出功率进行多次检测取平均值,得到最终的射频馈线损耗值。

本发明还提供了一种检测射频馈线损耗的装置,包括RRU和天线, 还包括射频开关和计算单元:射频开关,用于控制检测通道和校准通道 的切换,实现功率检测和校准的功能;计算单元,用于采集检测结果和 校准结果,计算RRU和天线间的射频馈线损耗。

上述技术方案中,检测通道包括依次连接形成一个环路的RRU的功 放单元、环行器、定向藕合器和射频开关,功放单元通过RRU的发射通 道与RRU的计算单元相连,射频开关通过RRU的接收通道与所述计算单 元相连。

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