[发明专利]半导体二氧化碳超临界吹扫清洗机有效

专利信息
申请号: 200810226688.X 申请日: 2008-11-19
公开(公告)号: CN101740337A 公开(公告)日: 2010-06-16
发明(设计)人: 惠瑜;景玉鹏 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: H01L21/00 分类号: H01L21/00;H01L21/02;B08B7/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 周国城
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 半导体 二氧化碳 临界 清洗
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种半导体清洗设备,尤其涉及一种半导体二氧化碳超临 界吹扫清洗机。

背景技术

传统半导体清洗工艺需要消耗大量的水,而且由于水的表面张力大, 无法对晶片上狭缝和线条间的杂质进行有效清洗。同时,由于水的粘滞度 大,在干燥时容易造成严重的吸附粘连问题。所以水不是最佳的清洗介质。

二氧化碳易进入超临界状态,二氧化碳超临界流体具有零表面张力、 低粘滞度、强扩散能力和溶解能力,可以对硅片上的微细结构进行有效清 洗和超临界干燥。且二氧化碳无味无毒,不助燃,环境友好,是理想的下 一代清洗介质。

发明内容

(一)要解决的技术问题

有鉴于此,本发明的主要目的在于提供一种半导体二氧化碳超临界吹 扫清洗机,以实现对晶片的彻底清洗干燥。

(二)技术方案

为达到上述目的,本发明提供了

一种半导体二氧化碳超临界吹扫清洗机,包括:

支架10;

固定于支架10上的清洗室1和分离室3,且清洗室1与分离室3在底 部通过密封的二氧化碳出气管12连通;

固定于清洗室1底部的磁旋转装置6;

固定于磁旋转装置6之上的硅片支架2;

向清洗室1中通入二氧化碳的喷嘴16,二氧化碳通过喷嘴16直接喷 射到硅片支架2上的硅片上;

与喷嘴16连通的助溶剂和清洗剂存储腔4;

对清洗室1进行加热或制冷的温度控制系统7,该温度控制系统7通 过缠绕设置于清洗室1外壁的加热和制冷盘管5对清洗室1进行加热或制 冷;

通过密封管道和喷嘴16与清洗室1连通的二氧化碳循环系统8,该二 氧化碳循环系统8同时与分离室3通过密封管道连通;以及

与分离室3底部连通的分离室废液排管9。

上述方案中,所述清洗室1进一步设置有压力传感器13和温度传感 器14。

上述方案中,在清洗结束后,通过对所述清洗室1进行等温降压,使 二氧化碳超临界流体直接气化,实现超临界干燥。

上述方案中,所述通过对所述分离室3减压,使助溶剂和清洗剂与二 氧化碳分离析出,并通过二氧化碳循环系统8实现二氧化碳的循环使用。

上述方案中,所述磁旋转装置6包括清洗室底部的永磁体、轴承和清 洗室内部的转动磁体支架;电机带动永磁体旋转,清洗室内部的转动磁体 支架磁极与永磁体相反,产生转动力,在轴承的传动下,实现旋转。

(三)有益效果

从上述方案可以看出,本发明具有以下有益效果:

1、本发明提出的这种带磁旋转结构和喷嘴设计的半导体二氧化碳超 临界吹扫清洗机,利用二氧化碳超临界流体的特性,以及磁旋转结构和喷 嘴的配合设计,实现了对硅片的充分清洗和超临界干燥,避免了传统水清 洗难以解决的问题,如微细结构难以清洗彻底,干燥过程中易造成结构粘 连等。

2、本发明提出的这种半导体二氧化碳超临界吹扫清洗机,大大推动 了半导体清洗技术的发展。

附图说明

图1是本发明提供的半导体二氧化碳超临界吹扫清洗机的结构示意 图。其中:1为清洗室,2为硅片支架,3为分离室,4为助溶剂和清洗剂 存储腔,5为加热和制冷盘管,6为磁旋转装置,7为温度控制系统,8为 二氧化碳循环系统,9为分离室废液排管,10为整体支架。

图2是本发明提供的半导体二氧化碳超临界吹扫清洗机中清洗室的结 构示意图。其中:11为二氧化碳进气管,12为二氧化碳出气管,5为清洗 室加热和制冷盘管,13为压力传感器,14为温度传感器,6为磁旋转装置, 15为硅片,2为硅片架,16为喷嘴。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白,以下结合具体实 施例,并参照附图,对本发明进一步详细说明。

本发明提供的这种半导体二氧化碳超临界吹扫清洗机,结构如图1所 示。该设备的主要结构为清洗室1和分离室3,其中清洗室的结构设计是 决定该设备清洗干燥效果的关键。

该半导体二氧化碳超临界吹扫清洗机具体包括:

支架10;

固定于支架10上的清洗室1和分离室3,且清洗室1与分离室3在底 部通过密封的二氧化碳出气管12连通;

固定于清洗室1底部的磁旋转装置6;

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