[发明专利]一种集成电路板级自动测试系统无效
| 申请号： | 200810239968.4 | 申请日： | 2008-12-16 |
| 公开（公告）号： | CN101750578A | 公开（公告）日： | 2010-06-23 |
| 发明（设计）人： | 张琳;刘炜;石志刚;吉国凡;王慧;金兰;宋奕霖 | 申请（专利权）人： | 北京华大泰思特半导体检测技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;B07C5/344 |
| 代理公司： | 北京北新智诚知识产权代理有限公司 11100 | 代理人： | 陈曦 |
| 地址： | 100088 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 集成 电路板 自动 测试 系统 | ||
【权利要求书】：
1.一种集成电路板级自动测试系统，其特征在于：
所述集成电路板级自动测试系统包括计算机、GPIB接口、USB接口、自动分选机和测试接口板；其中，
所述计算机连接所述GPIB接口和USB接口，所述GPIB接口连接所述自动分选机，所述自动分选机和所述USB接口都连接所述测试接口板，所述测试接口板连接被测器件。
2.如权利要求1所述的集成电路板级自动测试系统，其特征在于：
所述测试接口板与对接板紧密结合，与对接板的接触面全部绝缘。
3.如权利要求1所述的集成电路板级自动测试系统，其特征在于：
所述测试接口板和所述自动分选机之间由导孔和导针进行定位。
4.如权利要求1所述的集成电路板级自动测试系统，其特征在于：
所述自动分选机为EPSON NS-6040 HANDLER。
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