[发明专利]一种集成电路板级自动测试系统无效
申请号: | 200810239968.4 | 申请日: | 2008-12-16 |
公开(公告)号: | CN101750578A | 公开(公告)日: | 2010-06-23 |
发明(设计)人: | 张琳;刘炜;石志刚;吉国凡;王慧;金兰;宋奕霖 | 申请(专利权)人: | 北京华大泰思特半导体检测技术有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;B07C5/344 |
代理公司: | 北京北新智诚知识产权代理有限公司 11100 | 代理人: | 陈曦 |
地址: | 100088 北京市海*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 集成 电路板 自动 测试 系统 | ||
技术领域
本发明涉及一种集成电路测试系统,尤其涉及一种面向具有USB接口的集成电路芯片的板级自动测试系统,属于集成电路测试技术领域。
背景技术
在集成电路制造过程中,测试是保证集成电路性能、质量的关键手段之一。近年来,随着集成电路设计规模的不断增大,设计方法的不断提高,以及高密度工艺技术的普遍采用,如今生产的集成电路尺寸小巧,功能强大。随之也引发了一个前所未有的挑战-生产商该如何高效廉价地测试这些集成电路芯片。
目前,测试集成电路的方法通常是使用自动测试设备(AutomaticTest Equipment,简写为ATE)。ATE在集成电路产业中通常是指集成电路自动测试机。该集成电路自动测试机主要用于检测集成电路功能的完整性,以确保集成电路生产制造的品质。但是,集成电路自动测试设备由少数厂家垄断,不仅价格昂贵,而且使用范围比较有效。例如对于具有USB接口模块的集成电路芯片,现有的自动测试设备并没有提供廉价高效的测试解决方案。
在专利号为200420001469.9的中国实用新型专利中,提供了一种USB端口测试装置,包括壳体、控制单元以及接口;其中,所述控制单元位于所述壳体内部,包括控制接口的接口控制电路和处理测试数据的数据自动分选机;所述接口包括从待测试USB端口向控制单元供电的电源信号端子和接地端子、以及建立数据自动分选机与待测试USB端口之间的数据通道的数据信号端子。所述装置还设有指示灯,指示所述装置与被测USB端口物理连接状态是否良好。该USB端口测试装置可以测试电子设备的USB端口的即插即用性能,既方便操作,又提高了测试效率,同时降低了测试成本。
但是,上述USB端口测试装置并不具备测试集成电路芯片的能力,因此无法满足具有USB接口的集成电路芯片的测试需要。
发明内容
本发明的目的在于提供一种面向具有USB接口的集成电路芯片的板级自动测试系统。该板级自动测试系统是专门为测试具有USB接口模块的集成电路芯片而开发的。
为实现上述的目的,本发明采用下述的技术方案:
一种集成电路板级自动测试系统,其特征在于:
所述集成电路板级自动测试系统包括计算机、GPIB接口、USB接口、自动分选机和测试接口板;其中,
计算机连接GPIB接口和USB接口,GPIB接口连接自动分选机,自动分选机和USB接口都连接测试接口板,测试接口板连接被测器件。
本发明所提供的集成电路板级自动测试系统具有使用方便、成本低廉、自动化程度高等特点。同时,本集成电路板级自动测试系统还具有高效的并行测试能力,通过有效地平衡设计与测试资源,缩短了测试时间,为用户提供了更为有效的测试解决方案。
附图说明
下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步的说明。
图1为本集成电路板级自动测试系统的组成结构示意图;
图2显示了本集成电路板级自动测试系统所实现的各项测试功能;
图3显示了本集成电路板级自动测试系统进行集成电路测试的具体工作过程。
具体实施方式
参见图1所示,本发明所提供的集成电路板级自动测试系统包括计算机、GPIB接口、USB接口、自动分选机(HANDLER)和测试接口板。其中,计算机连接GPIB接口和USB接口,GPIB接口连接自动分选机(HANDLER)。该自动分选机(HANDLER)和USB接口都连接测试接口板,而测试接口板连接被测器件(Device under test,简写为DUT)。
在本集成电路板级自动测试系统中,所使用的计算机可以是普通的PC机,也可以是具有较高运算能力的MCU(微控制器)。所使用的自动分选机(HANDLER)优选为EPSON NS-6040HANDLER。这是一款拥有单通道/双通道/多通道测试模式,可以对QFP/TSOP/PGA/BGA/PLCC/QFN等封装方式的集成电路芯片进行高速测试的混合信号自动分选机。GPIB接口是计算机与自动分选机(HANDLER)之间的通信接口。USB接口是测试接口板与计算机的通信接口。这些接口都是本领域一般技术人员所熟知的,在此就不详细赘述了。
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