[发明专利]一种T形沟道的有机场效应晶体管的制作方法有效
申请号: | 200810240078.5 | 申请日: | 2008-12-17 |
公开(公告)号: | CN101752503A | 公开(公告)日: | 2010-06-23 |
发明(设计)人: | 刘舸;刘明;刘兴华;商立伟;王宏;柳江 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 |
主分类号: | H01L51/40 | 分类号: | H01L51/40 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 周国城 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 沟道 有机 场效应 晶体管 制作方法 | ||
1.一种T形沟道的有机场效应晶体管的制作方法,其特征在于,该 方法包括:
步骤1、在导电基底上生长绝缘介质薄膜;
步骤2、在绝缘介质薄膜表面上旋涂抗蚀剂,光刻得到T形沟道的底 电极胶图形;
步骤3、在T形沟道的底电极胶图形表面蒸镀一层金属薄膜;
步骤4、用丙酮剥离掉光刻胶,形成底电极;
步骤5、沉积有机半导体薄膜,完成器件的制作。
2.根据权利要求1所述的T形沟道的有机场效应晶体管的制作方法, 其特征在于,步骤1中所述导电基底是电阻率低的导电材料,用于作为有 机场效应管的栅极。
3.根据权利要求1所述的T形沟道的有机场效应晶体管的制作方法, 其特征在于,步骤1中所述在导电基底上生长绝缘介质薄膜是采用热氧化 生长的方法或化学气相沉积的方法实现的。
4.根据权利要求1所述的T形沟道的有机场效应晶体管的制作方法, 其特征在于,步骤3中所述底电极金属薄膜是通过电子束蒸发实现的。
5.根据权利要求1所述的T形沟道的有机场效应晶体管的制作方法, 其特征在于,步骤4中所述底电极是采用非平行排列的,进而导致沟道是 成T形的。
6.根据权利要求1所述的T形沟道的有机场效应晶体管的制作方法, 其特征在于,步骤5中所述有机半导体薄膜的沉积采用真空热蒸镀的方法 实现。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L51-00 使用有机材料作有源部分或使用有机材料与其他材料的组合作有源部分的固态器件;专门适用于制造或处理这些器件或其部件的工艺方法或设备
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