[发明专利]一种T形沟道的有机场效应晶体管的制作方法有效

专利信息
申请号: 200810240078.5 申请日: 2008-12-17
公开(公告)号: CN101752503A 公开(公告)日: 2010-06-23
发明(设计)人: 刘舸;刘明;刘兴华;商立伟;王宏;柳江 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: H01L51/40 分类号: H01L51/40
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 周国城
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 沟道 有机 场效应 晶体管 制作方法
【权利要求书】:

1.一种T形沟道的有机场效应晶体管的制作方法,其特征在于,该 方法包括:

步骤1、在导电基底上生长绝缘介质薄膜;

步骤2、在绝缘介质薄膜表面上旋涂抗蚀剂,光刻得到T形沟道的底 电极胶图形;

步骤3、在T形沟道的底电极胶图形表面蒸镀一层金属薄膜;

步骤4、用丙酮剥离掉光刻胶,形成底电极;

步骤5、沉积有机半导体薄膜,完成器件的制作。

2.根据权利要求1所述的T形沟道的有机场效应晶体管的制作方法, 其特征在于,步骤1中所述导电基底是电阻率低的导电材料,用于作为有 机场效应管的栅极。

3.根据权利要求1所述的T形沟道的有机场效应晶体管的制作方法, 其特征在于,步骤1中所述在导电基底上生长绝缘介质薄膜是采用热氧化 生长的方法或化学气相沉积的方法实现的。

4.根据权利要求1所述的T形沟道的有机场效应晶体管的制作方法, 其特征在于,步骤3中所述底电极金属薄膜是通过电子束蒸发实现的。

5.根据权利要求1所述的T形沟道的有机场效应晶体管的制作方法, 其特征在于,步骤4中所述底电极是采用非平行排列的,进而导致沟道是 成T形的。

6.根据权利要求1所述的T形沟道的有机场效应晶体管的制作方法, 其特征在于,步骤5中所述有机半导体薄膜的沉积采用真空热蒸镀的方法 实现。

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