[发明专利]用于平板显示器的缺陷确认装置及其操作方法

权利要求书

1.一种用于平板显示器的缺陷确认装置，其特征在于，包括：

通断检查机，用于检测并发送缺陷信息至扫描单元，所 述缺陷信息包含：缺陷类别、数量、X坐标；

扫描单元，用于按照所述X坐标移动到缺陷所在的电极 线上，并在沿所述电极线移动过程中对玻璃基板表面进行照 相，以获取电极图像；

显示终端，用于显示所述电极图像；

光源系统，包括对所述扫描单元提供照明；

控制盘，用于控制所述扫描单元的移动、所述光源系统 的调节、以及所述显示终端的图像处理。

2.根据权利要求1所述的缺陷确认装置，其特征在于，所述扫描 单元包括：

移动机构，用于移动；

探头，用于照相。

3.根据权利要求2所述的缺陷确认装置，其特征在于，所述移动 机构包括：

横梁，用于安装固定扫描探头与光源系统，并用于滑块 滑动的导轨；

滑块，其可沿所述横梁移动，用于安装所述探头和所述 光源系统；

驱动装置，用于在所述控制盘的控制下驱动所述滑块；

连动装置，其连接所述滑块与所述驱动装置。

4.根据权利要求1所述的缺陷确认装置，其特征在于，所述光源 系统包括：

落射照明单元，用于对所述扫描单元提供落射照明；

反射照明单元，用于对所述扫描单元提供反射照明。

5.一种根据权利要求1所述的缺陷确认装置的缺陷确认方法，其 特征在于，包括以下步骤：

所述扫描单元在移动过程中对玻璃基板表面进行照相， 以获取电极图像，该步骤包括：接收通断检查机传过来的缺陷 信息，所述缺陷信息包含：缺陷类别、数量、X坐标；依据此 缺陷信息，找到缺陷所在的端子区域；依X坐标将所述扫描 单元移动到缺陷所在的电极线上；所述扫描单元沿所述电极线 移动照相。其中，所述光源系统对所述扫描单元提供照明；

所述显示终端实时显示所述电极图像；

通过观察所述显示终端上的所述电极图像来确定缺陷位 置。

6.根据权利要求5所述的缺陷确认方法，其特征在于，所述缺陷 为断路缺陷，依X坐标将所述扫描单元移动到缺陷所在的电 极线上具体包括：

所述电极线位置取X坐标数据的一半。

7.根据权利要求5所述的缺陷确认方法，其特征在于，所述缺陷 为短路缺陷，依X坐标将所述扫描单元移动到缺陷所在的电 极线上具体包括：

处于同一个放电单元两侧的两根电极以相同的序数计 数，则

第n根电极与第n根电极发生的短路，则确定短路 缺陷是在放电单元两侧的电极发生；

第n根电极与第n+1根电极发生的短路，则确定短 路缺陷是在非放电侧的电极发生；

连续短路发生，则确定短路缺陷是在图形区发生；

若发生第n根与第n+1根、第n+1根与第n+2根的 连续短路缺陷，则确定短路缺陷是在端子部发生；

根据以上判断，将所述扫描单元移动到缺陷所在的电极 线上。

8.根据权利要求5所述的缺陷确认方法，其特征在于，所述光源 系统包括：落射照明单元，用于对所述扫描单元提供落射照明； 反射照明单元，用于对所述扫描单元提供反射照明；所述光源 系统对所述扫描单元提供照明具体包括：

在查找ITO短路缺陷时关掉所述反射照明单元，在查找 Ag电极短路和断路缺陷时关掉所述落射照明单元。

9.根据权利要求5所述的缺陷确认方法，其特征在于，通过观察 所述显示终端上的所述电极图像来确定缺陷位置具体包括：

对于单根电极线上只存在一个缺陷的情况，在找到缺陷 位置后，将缺陷坐标记录下来，结束此根电极线的扫描；

对于单根电极线存在多个缺陷的情况，则进一步判定是 连续缺陷还是非连续缺陷，

如果是连续缺陷，则在找到缺陷后与通断后缺陷数 据分析结果进行比对，只有在完全符合的情况下才终止此 根电极线的扫描；

如果是非连续缺陷，则在找到一处缺陷并记录其坐

标后继续对电极线扫描，直到找到此根电极线上的所有缺 陷为止；

完成基板上所有电极线的缺陷确认后，将确认的缺陷坐 标传给修复机。