[发明专利]用于平板显示器的缺陷确认装置及其操作方法

说明书

技术领域

本发明涉及平板显示器领域，具体而言，涉及用于平板显示器 的缺陷确认装置及其操作方法。

背景技术

在平板显示器(例如等离子显示器)面板的电极制作过程中， 不可避免地会产生一些短路和断路缺陷。为控制产品质量，提高产 品良品率，就需要对这些缺陷进行检查和修复。电极缺陷的检查修 复系统主要包括：外观检查、缺陷复查、缺陷修复及通断检查。外 观检查是从外观上对图形进行缺陷检查，而通断检查则是从电气性 能上对图形进行缺陷检查，两者相辅相成，确保缺陷检出的效率和 准确率。

在工艺流程上，一般是先进行外观检查和缺陷复查。然后针对 缺陷复查结果，对需要进行修复的缺陷进行激光切割修复或浆料涂 敷修复。在完成所有缺陷的修复后，需进行通断检查，对外观检查 进行补充，以防有一些比较特殊的缺陷在外观检查中没有被检查出 来。如果在通断检查中仍有缺陷存在，则需对这些缺陷也进行修复。 修复完后，再次进行通断检查。如此反复，直到通断检查结果为没 有缺陷为止。

由于通断检查的结果，只能显示缺陷的X坐标，对Y坐标无 法确认，这使得在进行缺陷修复前需对缺陷的具体位置进行确认。

目前采用的主要方法是在修复机上进行缺陷的具体位置确认。 依据通断检查的显示结果，将修复头移动到缺陷所在的端子区域； 然后人工计数，找到缺陷的X坐标后，手动控制摇杆使修复头沿着 缺陷所在电极线移动，直到找到缺陷为止。这种方法最大的缺点是 在进行缺陷修复前，需花大量时间来找到缺陷具体位置，不满足量 产线对高效率和节拍时间的要求。在正常情况下，外观检查机和复 查机的节拍时间是固定的，理论上修复机也应在此节拍时间内至少 完成1张屏的缺陷修复。

在实现本发明过程中，发明人发现修复机要同时进行外观检查 机传过来的缺陷和通断检查机传过来的缺陷的修复，对效率的要求 很高。如果要花时间进行缺陷位置确认，显然会大大降低修复机的 效率。

发明内容

本发明旨在提供一种用于平板显示器的缺陷确认装置及其操 作方法，能够解决现有技术用修复机确认缺陷降低生产效率的问 题。

在本发明的实施例中，提供了一种用于平板显示器的缺陷确认 装置，包括：扫描单元，用于在移动过程中对玻璃基板表面进行照 相，以获取电极图像；显示终端，用于显示电极图像；光源系统， 包括对扫描单元提供照明；控制盘，用于控制扫描单元的移动、光 源系统的调节、以及显示终端的图像处理。

可选的，在上述的缺陷确认装置中，扫描单元包括：移动机构， 用于移动；探头，用于照相。

可选的，在上述的缺陷确认装置中，移动机构包括：横梁，用 于安装固定扫描探头与光源系统，并用于滑块滑动的导轨；滑块， 其可沿横梁移动，用于安装探头和光源系统；驱动装置，用于在控 制盘的控制下驱动滑块；连动装置，其连接滑块与驱动装置。

可选的，在上述的缺陷确认装置中，光源系统包括：落射照明 单元，用于对扫描单元提供落射照明；反射照明单元，用于对扫描 单元提供反射照明。

在本发明的实施例中，还提供了上述的缺陷确认装置的操作方 法，包括以下步骤：扫描单元在移动过程中对玻璃基板表面进行照 相，以获取电极图像，其中，光源系统对扫描单元提供照明；显示 终端实时显示电极图像；通过观察显示终端上的电极图像来确定缺 陷位置。

可选的，在上述的操作方法中，扫描单元在移动过程中对玻璃 基板表面进行照相具体包括：接收通断检查机传过来的缺陷信息， 缺陷信息包含：缺陷类别、数量、X坐标；依据此缺陷信息，找到 缺陷所在的端子区域；依X坐标将扫描单元移动到缺陷所在的电极 线上；扫描单元延电极线移动照相。

可选的，在上述的操作方法中，缺陷为断路缺陷，依X坐标将 扫描单元移动到缺陷所在的电极线上具体包括：电极线位置取X坐 标数据的一半。